L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號269L&W光學(xué)粗糙度儀用于測量紙張表面粗糙度并評估印刷適應(yīng)性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學(xué)法測定紙張表 面粗糙度的儀器，L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價(jià)比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經(jīng)被證明是一種杰出的方法，用于評估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關(guān)系。

L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號269
L&W OptiTopo用于測量紙張表面粗糙度并評估印刷適應(yīng)性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學(xué)法測定紙張表 面粗糙度的儀器，它具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價(jià)比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經(jīng)被證明是一種杰出的方法，用于評估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關(guān)系。|總代理|代表處|代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價(jià)格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準(zhǔn)
相較于傳統(tǒng)的光學(xué)測量方法（如激光法、同焦法和色差法），L&W OptiTopo具有約20倍大的測量面積，因此可以得到更準(zhǔn)確、更具代表性的測試結(jié) 果。L&W OptiTopo 在約10秒內(nèi)檢測分析1000 mm2測試區(qū)域，測試結(jié)果將快速的顯示在觸摸屏上。其他產(chǎn)品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點(diǎn)儀,熱導(dǎo)氣體分析儀,GE流量計(jì),OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,PPB微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃?xì)鉄嶂祪x,KAYE溫度驗(yàn)證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點(diǎn)儀,干燥機(jī)露點(diǎn)儀,激光氣體分析儀,便攜式露點(diǎn)儀,便攜式微量氧分析儀西門子氧電池/OXY-12/ULTRAMAT-23代表U23氧模塊價(jià)格|PID傳感器 |總代理|代表處|代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價(jià)格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準(zhǔn)


L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀測量技術(shù)
L&W OptiTopo 采用高分辨率CMOS成像系統(tǒng)在兩種不同的光照條件下對紙張表面同一區(qū)域拍攝兩張照片，借助分析紙張表面的因粗糙不平形成的地形圖。紙張樣品先由地位一側(cè)的光照系統(tǒng)照亮并成像，隨后在另一側(cè)燈光照射下成像，以漸變映向的形式展現(xiàn)并解析為高度圖進(jìn)行下一步分析。

L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀測量結(jié)果
L&W OptiTopo引入兩種新的測量結(jié)果：Crater 值和 OSD值。這兩種測試結(jié)果更能代表印刷適應(yīng) 


性，同時(shí)提供更多與表面地形相關(guān)的信。Crater值評估漏 印的風(fēng)險(xiǎn)。 OSD值是在相對于傳統(tǒng)的空氣泄露法 更精細(xì)的層面上反應(yīng)紙張表面粗糙度，從而評估 印刷適應(yīng)性。L&W OptiTopo在不同波段計(jì)算表面地形，波動范圍從小到大。傳統(tǒng)的表面粗糙度如： PPS，本特森、針式粗糙度和謝菲爾德粗糙度都可 以通過L&W OptiTopo得到估算（需要針對不同紙 種進(jìn)行校準(zhǔn)）。紙張表面同一區(qū)域在不同光照條件下進(jìn)行兩次 成 像，不同方向的光源照射產(chǎn)生陰影和波紋。采 用光度立體技術(shù)計(jì)算高度圖從而形成紙張表面的地形圖。
便于操作 
便于使用的觸摸屏配置有直觀的菜單和人機(jī)有好 的操作界面。觸摸屏分辨率高，響應(yīng)快速，同時(shí) 表面具有保護(hù)層易于清潔且堅(jiān)固耐用。耐用且持久穩(wěn)定的LED光源確保儀器需要較小的維護(hù)，且操作員自己完成簡單的維護(hù)工作。另外，實(shí)時(shí)顯示功 能 可以是調(diào)節(jié)樣品位置更加簡便，便于分析更具 代 表性的紙張表面區(qū)域。（避開那些可能導(dǎo)致結(jié)果失準(zhǔn)的有缺陷的區(qū)域）。
OSD值
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀在不同波段測量 表面的地形 圖，波動范圍從大 到小。OSD值是根據(jù)小尺度表面 變化計(jì)算得來，是評估印刷適應(yīng)性 的重要信息。
CRATER值 
Crater值是紙張表面存在的一定深度的凹坑的數(shù)量。得知紙張表面的凹坑的百分 比可以幫助預(yù)測柔印和凹印的印刷質(zhì) 量，顯示未覆蓋區(qū)域（UCA)和漏印 點(diǎn)，因?yàn)榧垙埍砻孑^深的凹坑將在印刷 過程中無法被油墨覆蓋。

L&W OptiTopo報(bào)告三種不同的Carter值，覆蓋市場上大多數(shù)印刷等級，Carter值的區(qū)間也可以有操作者自定義。