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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

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更新時間：2026-03-11 16:39:14瀏覽次數(shù)：273次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新

產(chǎn)品簡介
顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品說明

顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進(jìn)行。顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。

成像照片

下圖為使用10X物鏡對50um小孔進(jìn)行透射率測量時的聚焦和實(shí)測畫面。

顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

系統(tǒng)參數(shù)

型號	MicroTEQ-B1
光譜儀	可根據(jù)情況自行選配
顯微反射測量模塊	兼容大部分主流顯微鏡
尺寸	220x172x68 mm
重量	2.8 kg
支持波段	400-700 nm
反射照明支持相機(jī)尺寸	1/2"
測量光斑	10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖
測量光斑	50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖