高低溫沖擊循環(huán)機(jī)與高低溫沖擊試驗機(jī)是同款同功能同設(shè)計的試驗機(jī)，由于部分客戶在做測試時用低溫沖擊試驗功能多于高溫沖擊試驗，所以他們則稱它為低溫沖擊試驗機(jī)或者低溫沖擊機(jī)，當(dāng)然也可以縮短叫沖擊試驗機(jī)。

高低溫沖擊循環(huán)機(jī)的用途：

該試驗箱主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗，對電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進(jìn)行測試或試驗，大概詳情如下：

1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價電子產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況。

2.生產(chǎn)電子產(chǎn)品階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息。

3.對電子產(chǎn)品的定型進(jìn)行可靠性鑒定或驗收。

4.暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理。

5.為改進(jìn)電子產(chǎn)品的可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

的參照標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫。

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫。

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件。

GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式。

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式。

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗。

GJB360.7-87溫度沖擊試驗。

IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。

GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法。

GB/T 2423.22-2002溫度變化。

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則。

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。