無錫快速溫變老化試驗箱是模擬氣溫變化試驗的設(shè)備，現(xiàn)實環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化，zui高氣溫是午后2時左右，低氣溫是日出前后。年變化，北半球陸地上7月份熱1月冷，海洋上8月份熱2月份冷；南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化，就是因為人為導(dǎo)致一些設(shè)備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化，為了能提前預(yù)知產(chǎn)品的耐變性，所以廣大需求者需要購買快速溫變試驗箱回去做評估或者預(yù)測試驗。

試驗箱內(nèi)箱尺寸：

內(nèi)箱容積：寬mm×高mm ×深mm

150L ；500×600×500

225L ；500×750×600

408L ：600×850×800

800L ：1000×1000×800

1000L：1000×1000×1000

溫變范圍：

－40℃~+85℃

－70℃~150℃

無錫快速溫變老化試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件