電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備主要用于檢測材料在各種環(huán)境下性能反應(yīng)的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐濕、耐干、等性能反應(yīng)。適合電子、電工、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛配件、塑膠制品、金屬、光電、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等行業(yè)產(chǎn)品及半成品檢測質(zhì)量之用。

電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備技術(shù)參數(shù):

1.標(biāo)準(zhǔn)試驗箱內(nèi)箱尺寸：          

內(nèi)箱容積：寬mm×高mm ×深mm

30L：300×400×250

50L；350 ×400×350

80L：400 ×500×400

100L ：500×500×400

150L ；500×600×500

225L ；500×750×600

408L ：600×850×800

415L ：750×850×650

800L ：1000×1000×800

1000L：1000×1000×1000

標(biāo)準(zhǔn)尺寸可選（可非標(biāo)定制）

外箱尺寸：根據(jù)實際尺寸決定。

2.溫度范圍：

A系列：0℃～150℃  

B系列：－20℃~150℃  

C系列：－40℃~150℃  

D系列：－60℃~150℃  

F系列：－70℃~150℃

3.溫度精度：0.01℃；

4.-溫度波動度：±0.1℃；

5.溫度均勻度：±1℃；

6.升溫時間：平均約3℃/min，（非線性控制、空載）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

7.降溫時間：平均約1℃/min，（非線性控制、空載）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

8.噪音：≤75db；

性能指標(biāo)符合

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)