顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)是一種將光譜測(cè)量技術(shù)與顯微鏡技術(shù)相結(jié)合的儀器系統(tǒng)，可用于對(duì)微觀樣品進(jìn)行多種光譜特性的測(cè)量和分析。

顯微光譜系統(tǒng)

系統(tǒng)構(gòu)成

- 光譜儀：是核心部件，用于分析和測(cè)量光的波長(zhǎng)和強(qiáng)度分布，根據(jù)不同的工作原理可分為光柵光譜儀、棱鏡光譜儀等。

- 顯微鏡：用于對(duì)微觀樣品進(jìn)行放大和成像，以便精確選擇測(cè)量區(qū)域，通常配備有不同放大倍數(shù)的物鏡和目鏡，以及載物臺(tái)、調(diào)焦機(jī)構(gòu)等部件。

- 光源：為測(cè)量提供所需的激發(fā)光，常見(jiàn)的有激光光源、鎢燈光源等。不同的測(cè)量模式和樣品可能需要不同波長(zhǎng)和強(qiáng)度的光源，如在熒光測(cè)量中常用特定波長(zhǎng)的激光作為激發(fā)光源，而在反射測(cè)量中可能使用鎢燈光源 。

- 探測(cè)器：用于檢測(cè)經(jīng)過(guò)樣品和光譜儀后的光信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)或數(shù)字信號(hào)進(jìn)行記錄和分析，常見(jiàn)的探測(cè)器有光電倍增管、電荷耦合器件（CCD）、互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）探測(cè)器等。

- 其他部件：包括光纖、透鏡、濾光片、反射鏡等光學(xué)元件，用于傳輸、聚焦、濾波和反射光信號(hào)，以實(shí)現(xiàn)測(cè)量效果；還可能包括掃描臺(tái)、控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集和處理軟件等，用于實(shí)現(xiàn)樣品的自動(dòng)掃描、測(cè)量參數(shù)的設(shè)置和控制，以及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)、分析和顯示。

主要功能

- 顯微熒光光譜測(cè)量：用于檢測(cè)樣品在受到特定波長(zhǎng)的光激發(fā)后所發(fā)出的熒光光譜，可提供有關(guān)樣品的熒光特性、分子結(jié)構(gòu)、能級(jí)躍遷等信息，在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用，如研究生物細(xì)胞中的熒光標(biāo)記物質(zhì)、檢測(cè)材料中的熒光缺陷等。

- 顯微拉曼光譜測(cè)量：通過(guò)檢測(cè)樣品對(duì)激光的拉曼散射光來(lái)獲取拉曼光譜，能夠提供樣品的分子振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)信息，可用于分析樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、分子間相互作用等，在材料表征、化學(xué)分析、生物醫(yī)學(xué)診斷等方面具有重要應(yīng)用，例如鑒定寶石的真?zhèn)?、檢測(cè)藥物的成分和結(jié)構(gòu)等。

- 顯微反射光譜測(cè)量：測(cè)量樣品表面對(duì)入射光的反射光譜，可反映樣品的表面特性、光學(xué)常數(shù)、薄膜厚度等信息，常用于材料表面分析、光學(xué)元件檢測(cè)、薄膜研究等領(lǐng)域，如評(píng)估半導(dǎo)體芯片表面的平整度和粗糙度、測(cè)量光學(xué)薄膜的厚度和折射率等。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

- 高空間分辨率：能夠?qū)ξ⒂^樣品進(jìn)行精確測(cè)量，可獲取樣品在微米甚至納米尺度下的光譜信息，有助于研究樣品的局部特性和微觀結(jié)構(gòu)變化。

- 多光譜分析能力：可同時(shí)或分別進(jìn)行多種光譜測(cè)量，如熒光、拉曼、反射等，為全面了解樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)提供豐富的信息，避免了單一光譜技術(shù)的局限性。

- 非破壞性測(cè)量：在大多數(shù)情況下，對(duì)樣品的損傷較小，可以在不破壞樣品原始結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的前提下進(jìn)行測(cè)量，這對(duì)于珍貴、稀有或難以制備的樣品尤為重要。 - 實(shí)時(shí)測(cè)量與成像：可以實(shí)時(shí)獲取樣品的光譜數(shù)據(jù)和圖像，便于快速觀察和分析樣品的變化過(guò)程，如在生物細(xì)胞實(shí)驗(yàn)中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)細(xì)胞內(nèi)的生理過(guò)程變化。

- 靈活性和可擴(kuò)展性：系統(tǒng)通常具有模塊化設(shè)計(jì)，可以根據(jù)不同的應(yīng)用需求選擇和更換不同的部件，如光譜儀、光源、探測(cè)器等，還可以與其他儀器設(shè)備聯(lián)用，擴(kuò)展其功能和應(yīng)用范圍。

應(yīng)用領(lǐng)域

- 材料科學(xué)與工程：研究材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能，如分析半導(dǎo)體材料的摻雜濃度、晶體缺陷，檢測(cè)復(fù)合材料的界面結(jié)合情況，評(píng)估納米材料的光學(xué)特性等。

- 生物醫(yī)學(xué)：用于生物細(xì)胞和組織的成像與分析，如觀察細(xì)胞內(nèi)的熒光標(biāo)記分子分布、檢測(cè)生物組織中的病變區(qū)域，進(jìn)行藥物作用機(jī)制研究等。

- 化學(xué)與化工：分析化學(xué)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和成分，如鑒定有機(jī)化合物的分子結(jié)構(gòu)、監(jiān)測(cè)化學(xué)反應(yīng)過(guò)程中的中間體和產(chǎn)物變化，檢測(cè)化工產(chǎn)品中的雜質(zhì)含量等。

- 環(huán)境科學(xué)與工程：對(duì)環(huán)境樣品中的微觀污染物進(jìn)行檢測(cè)和分析，如檢測(cè)土壤中的重金屬顆粒分布、分析水體中的微塑料成分，研究大氣氣溶膠中的化學(xué)成分等。

- 地質(zhì)學(xué)與礦物學(xué)：分析巖石和礦物的微觀結(jié)構(gòu)和成分，如鑒定礦物種類、研究巖石的變質(zhì)過(guò)程，檢測(cè)礦石中的微量元素分布等。

- 半導(dǎo)體與電子工業(yè)：對(duì)半導(dǎo)體器件和集成電路進(jìn)行檢測(cè)和分析，如檢測(cè)芯片表面的缺陷、分析半導(dǎo)體材料的電學(xué)和光學(xué)特性，評(píng)估光刻工藝的精度等。

- 文物與藝術(shù)品保護(hù)：對(duì)文物和藝術(shù)品的材料成分和微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，如鑒定古代陶瓷的產(chǎn)地和制作工藝、檢測(cè)書畫中的顏料成分，評(píng)估文物的保存狀況和修復(fù)效果等。

產(chǎn)品說(shuō)明

MicroTEQ-S1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)集成熒光、拉曼和反射光譜測(cè)量功能。通過(guò)把光譜模塊集成到顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構(gòu)成，自由靈活，幫助用戶快速對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，微觀光譜信息的測(cè)試和分析；此外系統(tǒng)可以加裝二維電控掃描臺(tái)，通過(guò)軟件控制，實(shí)現(xiàn)光譜二維掃面測(cè)量功能。

應(yīng)用范圍

· 微流控                            · 納米材料分析

· 植物葉片研究                 · 珠寶、古籍檢測(cè)

· 激光材料評(píng)價(jià)                 · 光子晶體測(cè)試

· 生物和細(xì)胞測(cè)試

拉曼模式

拉曼探頭可直接插入顯微光譜測(cè)試模塊中，從而快速實(shí)現(xiàn)拉曼光譜測(cè)量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過(guò)更換探頭和激光器，便可實(shí)現(xiàn)488nm、532nm、633nm、785nm激發(fā)波長(zhǎng)的拉曼光譜測(cè)量。

搭配便攜式拉曼光譜儀

顯微光譜測(cè)試模塊也能夠適配ACCUMAN SR 系列科研級(jí)便攜拉曼，即插即用的工作模式讓您不僅可以實(shí)現(xiàn)便攜的拉曼光譜測(cè)量，還可以更方便地在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)實(shí)現(xiàn)顯微拉曼光譜分析。

圖片僅供參考

其他模式

熒光測(cè)量：顯微光譜測(cè)量模塊內(nèi)部集成了熒光測(cè)試光路，通過(guò)SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強(qiáng)的激發(fā)功率或更好的光斑質(zhì)量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發(fā)波長(zhǎng)的激發(fā)濾光片和發(fā)射濾光片，實(shí)現(xiàn)不同激發(fā)波長(zhǎng)的顯微熒光測(cè)量。

顏色和反射測(cè)量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測(cè)量模塊連接起來(lái)，共用熒光光路，即可實(shí)現(xiàn)顯微反射光譜測(cè)量和顯微顏色測(cè)量功能。

二維Mapping：選配二維電動(dòng)平臺(tái)，使用操作軟件設(shè)置面掃描采樣， 獲取一定范圍內(nèi)的逐點(diǎn)掃描光譜數(shù)據(jù)，可用于表征材料表面微觀結(jié)構(gòu)和光譜成像。同時(shí)測(cè)試結(jié)果還可以通過(guò)圖像繪制的方式呈現(xiàn)出來(lái)。

* 產(chǎn)品圖片僅供參考，具體以實(shí)際配置為準(zhǔn)

* 系統(tǒng)中部分配件非原廠制造（如顯微鏡），根據(jù)客戶實(shí)際需求進(jìn)行選配