概要

       臺式XGT - 5200系統(tǒng)搭載獨特的X射線導管，允許高空間分辨率的X射線熒光分析--從1.2毫米到10微米。無需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。整合的軟件可控制樣品的移動，獲取數據分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。將樣品放在樣品祥中后，只需幾秒鐘，借助直觀的“point and click"選擇分析位置，即開始抓取數據。

       樣品觀察采用同軸幾何呈象，可消除視差，您可以相信，看到的樣品即是測量的位置。

       儀器裝載了兩個X射線管，從而使用戶能夠簡單地切換顯微和宏觀光束，可適用于一系列實驗。這些光管傳遞的高強度光斑確保了的數據獲取時間。而光管的單毛細管設計非常適合高強度的元素成像，甚至對于不平整樣品同樣有效。

       通過自動采樣掃描很容易獲得XRF面掃描圖像，樣品下方的第二次信號檢測能同時收集X射線透射圖像。這項技術可提供額外的結構信息，極有利于對興趣區(qū)域的定位，或了解樣本的內部結構。

特征

• 的空間分辨率

         HORIBA獨特的X射線光管技術提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析，X射線光斑直徑小到10微米。這種強度的超細光斑，可進行快速無損的微細結構分析。 

• X射線透射成像

         結合XRF成像， XGT–5200可抓取透視圖像。這可被用來進行內部結構分析，定性那些眼睛不可見的區(qū)域。用垂直束窄掃描完成后，得到清晰穿透圖像甚至非平面樣品，如圓筒形部件。

• 完整地分析整個樣品

         該樣品室可以容納廣泛的樣品進行分析，從10 μm的微區(qū)功能的點分析，到250pxX250px大面積分析。

• 整合數據采集和分析的操作軟件

         直觀的軟件可以輕松地控制儀器硬件，快速采樣的可視化和選擇測量區(qū)域，全面的數據分析。功能包括自動峰識別，定量測量， RGB圖像生成，線剖面分析。

規(guī)格

產品相關圖及其它