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薄膜介電常數(shù)測試儀

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參考價: ￥ 20000

訂貨量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號BC-A

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更新時間：2025-04-18 10:03:47瀏覽次數(shù)：3345次

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北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新

薄膜介電常數(shù)測試儀介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

詳細介紹

薄膜介電常數(shù)測試儀 薄膜介電常數(shù)測試儀

1 測量范圍及誤差

本電橋的環(huán)境溫度為20±5℃，相對濕度為30％－80％條件下，應(yīng)滿足下列表中的技術(shù)指示要求。

在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）時

測量項目測量范圍測量誤差

電容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF

介質(zhì)損耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001

在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）時

測量項目測量范圍測量誤差

電容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF

介質(zhì)損耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001

2 電橋測量靈敏度

電橋在使用過程中，靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度，為保證測量準確度，希望電橋靈敏度達到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測量電壓，標準電容量成正比。在下面的計算公式中，用戶可根據(jù)實際使用情況估算出電橋靈敏度水平，在這個水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應(yīng)出來。

DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)

式中：Ｕ為測量電壓伏特（Ｖ）

ω為角頻率 2pf=314(50Hz)

Ｃｎ標準電容器容量皮法（pＦ）

Ｉｇ通用指另儀的電流5X10-10 安培（Ａ）

Ｒｇ平衡指另儀內(nèi)阻約1500 歐姆（W）

Ｒ４橋臂R4電阻值3183 歐姆（W）

Ｃｘ被測試品電容值皮法（ｐF）

3 電容量及介損顯示精度：

電容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。

介損： ±0.5％tgdx±1×10-4

4 輔橋的技術(shù)特性：

工作電壓±12V，50Hz

輸入阻抗>1012　W

輸出阻抗>0.6 W

放大倍數(shù)>0.99

不失真跟蹤電壓 0～12V（有效值）

5 指另裝置的技術(shù)特性：

工作電壓±12V

在50Hz時電壓靈敏度不低于1X10-6V／格，電流靈敏度不低于2X10-9A／格

二次諧波減不小于25db

三次諧波減不小于50db

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特點：優(yōu)化的測試電路設(shè)計使殘值更小◆ 高頻信號采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術(shù)◆ LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù)，手動/自動量程切換◆ 自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設(shè)置和鎖定，大大提高測試速度

作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。1 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。4 自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。7 計算機自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。