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HAST加速老化試驗箱 詳細摘要： HAST加速老化試驗箱應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣...
產(chǎn)品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2024-07-08 參考價： 面議 在線留言
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杭州賽能試驗設(shè)備有限公司
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