主要技術(shù)資料

·儀器指標(biāo):

1MHz～3GHz，以100KHz分檔

阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性

基本精度為1%

高速測(cè)量9ms

Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。

·生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠

安捷倫4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量速度非?？臁４送?，在小測(cè)試電流(100mA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。

·系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單

測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。

·便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測(cè)試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作夾具。