CS150M電化學(xué)工作站

組合測(cè)試，便于無人值守；腳本化測(cè)試，可創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)方案；自帶數(shù)據(jù)分析工具，人機(jī)交互友好；數(shù)據(jù)儲(chǔ)存無限制。

● 多種功能方法，包含OCP，恒電位，恒電流，極化曲線，CV，LSV等；
● 應(yīng)用領(lǐng)域廣，性價(jià)比高，電催化測(cè)試優(yōu)勢(shì)顯著；
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V
● 電流控制范圍：±2.0A 
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）             

    ● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz
    ● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
    ● 內(nèi)置FPGA DDS信號(hào)合成器
    ● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計(jì)
    ● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V
    ● 電流控制范圍：±2.0A 
    ● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）                  軟件特點(diǎn)
       ① 數(shù)據(jù)分析        ② 實(shí)時(shí)存儲(chǔ)        ③ 定時(shí)測(cè)量      技術(shù)優(yōu)勢(shì)

恒電位控制范圍：±10V	恒電流控制范圍：±2.0A
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV	電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)
電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)	電流靈敏度：1pA
電位上升時(shí)間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A)	電流量程：2nA～2A, 共10檔
參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF	.大輸出電流：2.0A
槽壓輸出：±21V	電流掃描增量：1mA @1A/mS
CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s	電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s	DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
SWV頻率：0.001～100KHz	CV的.小電位增量：0.020mV
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@3.6MHz，20bit @1KHz	電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置
DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1μS	低通濾波器 ：8段可編程
通訊接口：USB2.0、RJ45網(wǎng)口	儀器重量：7.6Kg
外形尺寸（cm）：36.4(W)*32.0(D)*13.8(H)

 

功能方法		CS150M	CS300M	CS310M	CS350M
穩(wěn)態(tài)極化	開路電位（OCP）	●	●	●	●
	恒電位極化（i-t曲線）	●	●	●	●
	恒電流極化	●	●	●	●
	動(dòng)電位掃描（Tafel曲線）	●	●	●	●
	動(dòng)電流掃描（DGP）	●	●	●	●
	電位掃描-階躍				●
暫態(tài)極化	任意恒電位階梯波	●	●	●	●
	任意恒電流階梯波	●	●	●	●
	恒電位階躍（VSTEP）	●	●	●	●
	恒電流階躍（ISTEP）	●	●	●	●
計(jì)時(shí)分析	計(jì)時(shí)電位法（CP）	●	●	●	●
	計(jì)時(shí)電流法（CA）	●	●	●	●
	計(jì)時(shí)電量法（CC）	●	●	●	●
伏安分析	線性掃描伏安（LSV）	●	●	●	●
	線性循環(huán)伏安（CV）	●	●	●	●
	階梯循環(huán)伏安（SCV）		●		●
	方波伏安（SWV）		●		●
	差分脈沖伏安（DPV）		●		●
	常規(guī)脈沖伏安（NPV）		●		●
	差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）		●		●
	交流伏安（ACV）		●		●
	二次諧波交流伏安（SHACV）		●		●
	傅里葉變換交流伏安（FTACV）		●		●
電流檢測(cè)	差分脈沖電流檢測(cè)（DPA）				●
	雙差分脈沖電流檢測(cè)（DDPA）				●
	三脈沖電流檢測(cè)（TPA）				●
	積分脈沖電流檢測(cè)（IPAD）				●
溶出伏安	電位溶出分析（PSA）		●		●
	線性掃描溶出伏安（LSSV）		●		●
	階梯溶出伏安（SCSV）		●		●
	方波溶出伏安（SWSV）		●		●
	差分脈沖溶出伏安（DPSV）		●		●
	常規(guī)脈沖溶出伏安（NPSV）		●		●
	差分常規(guī)脈沖溶出伏安（DNPSV）		●		●
交流阻抗	阻抗-頻率掃描			●	●
	阻抗-時(shí)間掃描			●	●
	阻抗-電位掃描（Mott-Schottky 曲線）			●	●
	恒電流阻抗測(cè)試			●	●
充放電測(cè)試	電池充放電	●	●	●	●
	恒電流充放電（GCD）	●	●	●	●
	恒電位充放電	●	●	●	●
	恒電位間歇滴定技術(shù)（PITT）	●	●	●	●
	恒電流間歇滴定技術(shù)（GITT）	●	●	●	●
雙恒測(cè)量	氫擴(kuò)散測(cè)試（HDT）	●	●	●	●
	盤環(huán)電極測(cè)試	●	●	●	●
擴(kuò)展測(cè)量	電化學(xué)噪聲（EN）	●	●	●	●
	電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）	●	●	●	●
	電化學(xué)溶解/沉積	●	●	●	●
	控制電位電解庫倫法（BE）	●	●	●	●
	動(dòng)電位再活化法（EPR）	●	●	●	●
	溶液電阻測(cè)量	●	●	●	●
	循環(huán)極化曲線（CPP）	●	●	●	●

       *產(chǎn)品3年質(zhì)保。