FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N用于檢查大型樣品的高級(jí)顯微鏡

采用尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，成像清晰；可搭配數(shù)碼相機(jī)。

尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片（L200N系列為200mm，L300N系列為300mm）、分劃板和其它大型平板類電子零部件的光學(xué)檢查。	尼康CFI60-2光學(xué)系列 尼康的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，支持實(shí)現(xiàn)清晰的、高對(duì)比度的明場(chǎng)、暗場(chǎng)、熒光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）鏡檢，以及雙光束干涉測(cè)量。
尼康Digital Sight數(shù)碼相機(jī) 尼康全系列Digital Sight數(shù)碼相機(jī)都能高效地進(jìn)行拍照，并可將當(dāng)前在用物鏡、倍率轉(zhuǎn)換設(shè)置和照明光亮度等參數(shù)一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。	L200N與NWL200聯(lián)合使用 在半導(dǎo)體行業(yè)中得到廣泛認(rèn)可和信任，目前有許多裝置在使用。

FPD/LSI檢查顯微鏡產(chǎn)品亮點(diǎn)

尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)

尼康的創(chuàng)新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)成像清晰，支持多種顯微鏡鏡檢。

反射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、熒光和雙光束干涉；

多種鏡檢方式

透射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。

數(shù)字化智能通信

顯微鏡通過(guò)USB與尼康NIS Elements軟件相連，可檢查并控制物鏡轉(zhuǎn)換、照明亮度、光闌動(dòng)作等。

人體工學(xué)設(shè)計(jì)

使用傾角可調(diào)的目鏡筒，可使操作者更為舒適地觀察樣品，消除疲勞。

主要用于觀察原材料、半導(dǎo)體和工業(yè)零部件。

FPD/LSI檢查顯微鏡規(guī)格參數(shù)

FPD/LSI檢查顯微鏡應(yīng)用行業(yè)

主要用途集中在電子通訊領(lǐng)域的零部件檢查，如硅片、液晶顯示屏等。反射熒光*可用來(lái)有效地檢查光刻膠殘留，檢查有機(jī)EL顯示屏。

*僅L300N/L300ND/L200ND