技術(shù)文章
使用數(shù)碼顯微鏡檢驗接合線
發(fā)布時間:2025-9-19
半導(dǎo)體制造和引線鍵合
半導(dǎo)體通過使用精密工藝進行制造。引線鍵合是其中一項制程,使用焊接金線、鋁線或銅線將集成電路上的電極連接至引線框架。引線直徑可能小至 10 微米,而且焊接精度需精確至 2 到 3 微米。焊接引線所需的精度等級意味著:即使輕微的振動也有可能造成接合不良,從而導(dǎo)致電子器件故障。
制造商會檢驗半導(dǎo)體中的引線鍵合是否有缺陷,如引線斷開、引線間距偏移、接合分離或剝離以及移位。因為半導(dǎo)體以大批量方式制造,因此一般用高速、自動化設(shè)備進行檢驗,提供每個芯片的結(jié)果(“合格/不合格")。會從生產(chǎn)線中挑出半導(dǎo)體不良品,由質(zhì)控部門使用光學(xué)顯微鏡或數(shù)碼顯微鏡進行詳細檢查。
檢驗接合線所存在的挑戰(zhàn)
接合線呈環(huán)狀而非直線,使用常規(guī)顯微鏡或數(shù)碼顯微鏡來檢驗它們非常具有挑戰(zhàn)性。檢驗員主要面臨三種挑戰(zhàn)。在檢驗的階段,檢驗員將以低放大倍率檢查線絲,以便能同時觀察整根線絲。然而,大多數(shù)低放大倍率物鏡的分辨率不足以提供清晰影像,從而難以發(fā)現(xiàn)特定類型的接合不良。另一個挑戰(zhàn)源于線絲的形狀,難以聚焦整根線絲,即使在低放大倍率下亦是如此。即使您正使用數(shù)碼顯微鏡(在使用高放大倍率的鏡頭時可提供優(yōu)良景深),但是其分辨率通常仍然不足以分析接合線中非常微小的不良情況。點,如果在低放大倍率下發(fā)現(xiàn)了問題,使用光學(xué)顯微鏡的檢驗員可能需切換到高放大倍率的顯微鏡或者更換鏡頭,以進行更詳細的觀察,但是這種切換較為耗時,需要重新定位相關(guān)區(qū)域。如果檢驗員正使用數(shù)碼顯微鏡,則切換到更高放大倍率所需采取的步驟取決于系統(tǒng)。某些數(shù)碼顯微鏡僅有一個變焦物鏡。在此種情況下,需要從顯微鏡本體上拆下低放大倍率的鏡頭,并換上新鏡頭。
用 DSX1000 數(shù)碼顯微鏡檢驗接合線的優(yōu)勢
DSX1000 顯微鏡提供的功能可應(yīng)對上述各個檢驗挑戰(zhàn)。顯微鏡的鏡頭使用奧林巴斯的光學(xué)技術(shù),能夠提供出色的景深,還可提供高分辨率,即使在高放大倍率下亦是如此。憑借此功能,更易于在聚焦整根引線時發(fā)現(xiàn)較小的缺陷。如果所需景深超出物鏡提供的景深范圍,通過“景深擴展"功能,您按下按鈕即可提高景深。
此外,憑借此款顯微鏡,從低放大倍率到高放大倍率的轉(zhuǎn)換變得輕而易舉。快換鏡頭可滑入顯微鏡本體或滑出,切換鏡頭快速、簡單。由于鏡頭位置保持固定,因此您無需花時間重新定位相關(guān)區(qū)域。

影像
以低放大倍率 (150X) 觀察的圖像

此圖像清晰顯示了引線鍵合過程中墊片焊接處的整個截面。
以高放大倍率 (560X) 觀察的圖像

此圖像清晰顯示了接合至墊片的金線。

以 3D 圖像顯示任意位置的輪廓,從而讓您能夠進行 3D 測量。
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