功能：納米粒度/Zeta電位(顆粒或平板)分布分析儀

分析范圍：

DelsaNano C 納米粒度/Zeta電位分布分析儀 ：0.6nm - 7um(粒度測量范圍)
 　 　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 0.6nm - 30um(Zeta電位測量范圍)

DelsaNano S 納米粒度分布分析儀：0.6nm - 7um(粒度測量范圍) 　
 
DelsaNano Z 納米粒度分布分析儀：0.6nm - 30um(Zeta電位測量范圍)

應(yīng)用原理技術(shù)：光子相關(guān)光譜分析法,電泳/光散射法

適用范圍：醫(yī)藥品,食品飲料,蛋白質(zhì),生物工程,配方 穩(wěn)定性,墨水,油墨,半導(dǎo)體,固液界面電位等等

技術(shù)特點：

- 可選傳統(tǒng)的前散射或背散設(shè)粒度測量

- 可選檢測器前置光圈加強(qiáng)精度與分辨率

- 可選對數(shù)或線性相關(guān)儀針對多種不同分散度樣品

- 可選特強(qiáng)電場針對難度高樣品

- 可選測量溫度低至5度

- 30mW激光源為標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

- 備石英,塑料一次性,毛細(xì)管和高濃度樣品池

- 多點測量Zeta電位分布加強(qiáng)精度

- 分析過程實時報讀粒度和粒度變化趨勢

- 粒度與Zeta電位均以平均值和分布圖/列表表達(dá)

- 全自動SOP操作模式可供連續(xù)測量多個SOP

- Zeta電位測量同時測量液體導(dǎo)電率

- 提供專業(yè)分散劑輔助納米分散