阻抗分析儀IM3570

1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查

• 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
• LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
• 基本精度±0.08%的高精度測量
• 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
• 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
• 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
• 搭配4ch掃描模塊機架，更能實現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測量

主機不標配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。