TP200系統(tǒng)組件包括：

• TP200或TP200B測頭體（TP200B為變體，振動公差更大）

• TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）

• PI 200測頭接口

• SCR200測針交換架

還有一種EO模塊（長超程），超程力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸提供保護。

特點和優(yōu)點

• 應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和精確的3D輪廓測量。

• 零復(fù)位誤差。

• 無各向同性影響。

• 6向測量能力

• 測針測量距離達100 mm（GF測針）

• 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖

• 壽命 >1000萬次觸發(fā)

TP200 / TP200B測頭體

 TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的3D輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但設(shè)計具有更高的振動公差。這有助于克服因測量機傳導(dǎo)振動或在定位速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的“空氣”觸發(fā)問題。

請注意，我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星型測針。
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