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BM-KLX顆粒圖像檢測(cè)儀。儀器采用了反射和透射兩種照明形式，并配有偏光裝置。在反射光照明下可進(jìn)行明場(chǎng)和偏光觀察，又可在透射光照明下作明場(chǎng)觀察。本儀器還配有135攝影裝置供顯微鏡攝影。

本儀器造型新穎、性能良好、使用方便可靠，可供工廠、高等院校、科研機(jī)構(gòu)及電子工業(yè)部門作金相、礦相、晶體、微電子等方面的試驗(yàn)與分析研究之用。

顆粒圖像檢測(cè)儀BM-KLX查看大圖

1、目鏡：

2、物鏡：

3.顯微鏡的總放大倍率：物鏡倍率×鏡筒系統(tǒng)倍率×目鏡倍率

4.載物臺(tái)：雙層移動(dòng)平臺(tái)，平臺(tái)尺寸：140mm×140mm 移動(dòng)范圍：75mm×40mm

5.濾色片：插板式濾色片：綠色、藍(lán)色、黃色

6.調(diào)焦裝置：30mm粗微動(dòng)同軸調(diào)焦帶限位、鎖緊裝置

7.聚光鏡：N.A.1.25阿貝聚光鏡帶可變光闌及濾色片

8.光源：落射照明，鹵素?zé)鬉C85V-230V，6V/20W，亮度可調(diào)

透射照明，鹵素?zé)鬉C85V-230V，6V/20W，亮度可調(diào)

9.偏光裝置：檢偏鏡可360°轉(zhuǎn)動(dòng)，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路

10、計(jì)算機(jī)成像系統(tǒng)：

(1)數(shù)字CMOS攝像機(jī)，500萬像素。帶幾何測(cè)量分析軟件。該軟件對(duì)點(diǎn)、線、圓及弧、直線度、圓度、面積等測(cè)量。

(2)MCL-Z 適配鏡

(3)電腦自購