Photoresist光阻劑廣泛用于PCB印刷電路板行業(yè)，通過其使用蝕刻化學品來布置電路連接或印刷電路板跡線。光刻膠也被用于半導體工業(yè)，它是用于形成單個半導體器件的微小電路的微圖案的光刻生產(chǎn)中的關鍵步驟?？刂乒饩€輻照強度和曝光時間是至關重要的，它可以避免在加工和生產(chǎn)過程中光刻膠的浪費性下曝光或曝光過度。為了保持這些設置，需要具有盡可能接近光阻劑作用光譜的光譜響應的測光表來精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度。

光刻膠曝光的加工設備通常非常緊湊并且沒有足夠的空間來進行輻照度測量。美國International Light致力于提供各種獨特的光刻膠專用儀器來實現(xiàn)這些困難的測量。ILT2400輻照計具有采用可能換分離探頭設計，具有8個量級的動態(tài)測量范圍，測量速度可達100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持價格研究質(zhì)量，測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。International Light XSD340A探頭測量光譜范圍320-475nm，校準于405nm，適用于PCB曝光系統(tǒng)光刻膠工藝、UVA光源強度，可測量8e-7 至10W/cm2曝光輻照強度。

國際光學International Light XSD系列光阻劑曝光探測器

ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，響應波段320-475 nm，校準于405nm波長

ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應波段320-475 nm，校準于405nm波長

ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光譜范圍326-401 nm，中心波長365nm

ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高強度，測量光譜326-401 nm，校準于365nm

測光表及探頭規(guī)格說明書/download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf

ILT2400中文版簡易操作說明書/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf

分析儀軟件/download/201805/ILT_DataLight-Trend-Manual.pdf

美國International Light PCB印刷線路板曝光測量輻照計與探頭選型表

International Light國際光學公司產(chǎn)品及解決方案

光測量系統(tǒng)：ILT為各種市場和應用提供高精度，業(yè)界的光測量系統(tǒng)，包括照度計、輻照計、能量計。    

燈和光源解決方案：提供廣泛的現(xiàn)成和定制燈和光源解決方案，包括LED、紫外線UV燈、紅外IR，專業(yè)替代燈和電源。

LED標識和重點照明：擁有全套LED模塊和用于標牌應用的柔性條，包括通道字母、標志柜以及建筑特色和海灣照明。

LED照明解決方案：用于冷凍柜和冷藏展示柜的LED照明解決方案，開放式照明、氣頂裝置、櫥柜內(nèi)照明、工作照明等。

定制解決方案：當現(xiàn)成的產(chǎn)品無法做到或需要定制時，ILT團隊將與您合作開發(fā)適合的解決方案，并提供技術(shù)專業(yè)知識。