描述

電感耦合等離子體 (ICP) 光學(xué)發(fā)射光譜法 (OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的的技術(shù)。

進樣系統(tǒng)：

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀出廠時已設(shè)定分析就緒的進樣參數(shù)，所以用戶不再需要優(yōu)化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。

• 一個 3 通道、12 轉(zhuǎn)子的蠕動泵，帶有獨特的排液監(jiān)測傳感器，提供順暢、低噪音的信號和安全的操作
• 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
• 組合式進樣系統(tǒng)易于重組和維護
• 增強基質(zhì)耐受 (EMT)炬管設(shè)計改善了高基質(zhì)樣品的操作
• 光學(xué)排液監(jiān)測傳感器可監(jiān)測來自霧化室的排液情況，在發(fā)現(xiàn)不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰，從而節(jié)約樣品、氣體和電力
• 提供一系列的 CETAC 自動進樣器，從而能夠優(yōu)化 iCAP 7200 ICP-OES 進行自動化、無人照看的分析

等離子體和射頻發(fā)生器：

• 雙向（垂直和水平）等離子體觀測

光學(xué)系統(tǒng)：

• 光學(xué)系統(tǒng)的低吹掃氣體流量有助于減少運行費用
• 高光傳輸效率的光學(xué)設(shè)計可提供優(yōu)異的靈敏度
• 高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測準(zhǔn)確度
• 具有熱切斷設(shè)計的恒溫控制多色器增強了長期穩(wěn)定性，可在不再進行校準(zhǔn)的情況下延長分析運行

檢測器：

• 電荷注入裝置 (CID) 檢測器： CID-86
• 可以在 175 到 847 nm 范圍內(nèi)自由連續(xù)選擇波長
• 具備抗鄰近像素暈光效應(yīng)的功能，減少了復(fù)雜樣品基質(zhì)引起的假陽性結(jié)果
• 非破壞性讀取和隨機存取的集成改善了信背比和檢測限

軟件：

• 直觀的 Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™ 平臺軟件將預(yù)加載方法模板作為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置，能夠進行"開箱即用"的操作