冷熱沖擊試驗箱 可程式

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

冷熱沖擊試驗箱 可程式

控制系統(tǒng)：

制冷系統(tǒng)：

執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法