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陜西天士立科技有限公司
產(chǎn)品型號STA1200
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地西安市
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更新時間:2024-04-29 17:26:24瀏覽次數(shù):398次
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適用于Si(選配 SiC , GaN)材料的單管級IGBTs, Diodes, MOSFETs,的動態(tài)特性測試電壓源 1200V(選配 2000V)電流源 100A(選配 200A/300A)驅(qū)動電壓±20V(選配±30V)個性單元與主機靈活搭配,計算機程控操作
晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)
適用于Si(選配 SiC , GaN)材料的單管級IGBTs, Diodes, MOSFETs,的動態(tài)特性測試
電壓源 1200V(選配 2000V)電流源 100A(選配 200A/300A)驅(qū)動電壓±20V(選配±30V)
個性單元與主機靈活搭配,計算機程控操作
試驗?zāi)芰?/span> | 基本配置 |
ü 標(biāo)配,開通特性測試單元 / Turn_ON ü 標(biāo)配,關(guān)斷特性測試單元 / Turn_OFF ü 標(biāo)配,二極管反向恢復(fù)測試單元 / Trr ü 標(biāo)配,柵電荷測試單元 / Qg ¨ 選配,容阻測試單元 / CR ¨ 選配,短路測試單元 / SC ¨ 選配,雪崩測試單元 / UIS ¨ 選配,安全工作區(qū)單元 / SOA ¨ 選配,動態(tài)電阻單元 / | 高壓源:1200V(選配 2000V) 高流源:100A(選配 200A/300A/500A) 驅(qū)動電壓:±20V(選配±30V) 時間分辨率:1ns(選配 400ps/200ps/100ps) 系統(tǒng)雜感:<20nH 測試對象:Si(選配SiC/GaN)材料IGBTs , Diodes , MOSFETs(選配BJT) 變溫測試:常溫~150℃/200℃ 感性負(fù)載:程控電感(0.01mH-160mH,步進10uH),選配定制電感 阻性負(fù)載:程控電阻(1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω)備用三個電阻 測試管型:可以測試N溝道和P溝道的IGBTs , MOSFETs 測試標(biāo)準(zhǔn):國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60747-9/IEC60747-2 國標(biāo)GB/T29332/GB/T4023 |
產(chǎn)品概述
STA1200 型晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng),是一款主要面向“單管級器件"用戶服務(wù)的測試設(shè)備,可實現(xiàn)對Si 基(選配SiC/GaN)材料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT的多種動態(tài)參數(shù)的精確測試,測試原理符合國GJ標(biāo)。
能夠測試測試的參數(shù)包括開通時間、關(guān)斷時間、上升時間、下降時間、導(dǎo)通延遲時間、關(guān)斷延 遲時間、開通損耗、關(guān)斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺電壓、反向恢復(fù)時間、反向恢復(fù) 充電電量、反向恢復(fù)電流、反向恢復(fù)損耗、反向恢復(fù)電流變化率、反向恢復(fù)電壓變化率、輸入電容、輸出電容、反向轉(zhuǎn)移電容、短路等等。
通過更換不同個性單元(簡稱DUT)以達到對應(yīng)的測試項目,通過軟件切換可以選擇測試單元、測試項目及配置測試參數(shù)、讀取保存測試結(jié)果。系統(tǒng)集成度高,性能穩(wěn)定,具有升級擴展?jié)撃芎土己玫娜藱C交互。
該測試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團隊結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測試的多年經(jīng)驗,以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,自主開發(fā)設(shè)計的全新一代“晶體管動態(tài)特性手動測試平臺"。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性以及擴展性能夠得到持續(xù)*和不斷的提升。為從事功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的測試用戶奉上一款優(yōu)秀產(chǎn)品。
測試參數(shù)
switch | Trr | Qg | SC | UIS | CR |
td(on)開通延遲 td(off)關(guān)斷延遲 tr 上升時間 tf 下降時間 ton 開通時間 toff 關(guān)斷時間 Eon 開通損耗 Eoff 關(guān)斷損耗 | 反向恢復(fù)時間 Trr 反向恢復(fù)電荷 Qrr 反向恢復(fù)電流 Irm 反向恢復(fù)損耗 Erec 軟度因子 FRRS 電流下降率 di/dt 電壓變化率 dv/dt | Qg(th)閾值電荷 Vg 平臺電壓 Qg 柵電荷 Qgs 柵源電荷 Qgd 柵漏電荷
| Icsc 短路電流 Tsc 短路時間 Esc 短路耐量 | EAS 雪崩能量 IAS 雪崩電流 PAS 雪崩功率 | Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Cres 反饋電容 Rg 柵極電阻 |
外觀架構(gòu)

系統(tǒng)特點
專注于寬禁帶功率器件動態(tài)參數(shù)評測,基于平臺開發(fā)的人機交互界面,所有測試條件均可界面化輸入,系統(tǒng)閉環(huán)處理,自動調(diào)節(jié)實現(xiàn)一鍵測試;
采用光纖驅(qū)動信號通訊,響應(yīng)速度快,抗干擾能力強;
設(shè)備帶有自動高溫加熱功能,溫度范圍:室溫~200℃,精度±0.1℃;
結(jié)果輸出形式:Excel數(shù)據(jù),.JPEG格式波形,Excel波形數(shù)據(jù),其波形可實現(xiàn)任意放大,縮小細(xì)節(jié)展寬處理分析;
測試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實測);
柵極驅(qū)動電阻Rg端口開放,方便客戶按照設(shè)定條件匹配電阻;
采用Dual ARM控核,DSP作數(shù)據(jù)采樣計算,極大的減少了控制時延帶來的誤差;
參數(shù)指標(biāo)
√ 標(biāo)配(阻性/感性)開關(guān)測試單元 / Turn_ON/OFF 漏極電壓測試范圍:5V-1200V,分辨率 1V 漏極電流測試范圍:1A-100A,分辨率1A; 柵極驅(qū)動:±20V(選配±30V),分辨率 0.1V MAX柵極電流:2A 脈沖寬度:1us-500us,步進 0.1us 時間測試精度:1ns 感性負(fù)載:0.01mH-160mH 程序控制,步進 10uH 阻性負(fù)載:1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω,程序控制,備用三個電阻 開通/關(guān)斷時間 ton/toff:1-10000ns分辨率1ns(選配400/200/100ps) 開通/關(guān)斷延遲 td(on)/td(off):0.1-10000ns@1ns(選配400/200/100ps) 上升/下降時間 tr/tf:1-10000ns分辨率1ns(選配400/200/100ps) 開通/關(guān)斷損耗 Eon/Eoff:1-2000mJ 最小分辨率 1uJ √ 標(biāo)配 二極管反向恢復(fù)測試單元 / Qrr_FRD 正向電流:1A-25A,分辨率 0.1A 25A-100A(選配200A/300A)分辨率 1A 反向電壓:5v-100V,步進 0.1V 100V-1200V,步進 1.0v 反向恢復(fù)時間 Trr:1-10000ns,最小分辨率1ns(選配400/200/100ps) 反向恢復(fù)電荷 Qrr:1nC-100µC,最小分辨率 1nC; 反向恢復(fù)電流 Irm:1A-100A(選配200A/300A); 反向恢復(fù)損耗 Erec:1-2000mJ,最小分辨率 1uJ; 電流下降率 dif/dt:50-1kA/us; 電壓變化率 dv/dt:50-1kV/us。 ¨ 選配 容阻測試單元 / CR 電容測試掃頻范圍:0.1MHz~5MHz 漏源極電壓:1200V,分辨率 1V 測試參數(shù):Ciss、Coss、Cres | √ 標(biāo)配 柵極電荷單元 / Qg 驅(qū)動電流:0-2mA,分辨率 0.01mA 2-20mA,分辨率 0.1mA 20mA-200mA,分辨率 1mA 柵極電壓:±20V(選配±30V)@0.1V 恒流源負(fù)載:1-25A,分辨率0.1A 25-100A(選配200A/300A)@1A 漏極電壓:5-100V,步進 0.1V 100-1200V,步進 1.0V 柵極電荷 Qg:1nC-100µC 漏極電荷 Qgs:1nC-100µC 源極電荷 Qgd:1nC-100µC 平臺電壓 Vgp:0~30V,分辨率 0.1V ¨ 選配 短路特性測試單元 / SC 最MAX電流:1000A 脈寬:1us~100us 柵驅(qū)電壓:±20V(選配±30V)@0.1V 漏極電壓:5V~100V,0.1V 分辨率 100V~1200V,1.0V 分辨率 ¨ 選配 雪崩測試單元 / UIS 雪崩耐量/EAS:100J 雪崩擊穿電壓/2500V 雪崩電流/IAS:1.0-400A 分辨率 1.0A 感性負(fù)載/0.01-160mH@10μH,程控可調(diào) ¨ 選配 動態(tài)電阻Ron,dy |
測試標(biāo)準(zhǔn)與原理



關(guān)鍵電路及部件
主電路

測試板

測試板布局
? 低寄生Layout ? 高抗噪
? VDS(on)鉗位電路 ? 探頭自動校準(zhǔn)

邏輯控制板
? 柵極光纖通信 ? FPGA+DSP架構(gòu) ? 波形數(shù)據(jù)深度存儲技術(shù)

人機界面
初始界面

系統(tǒng)設(shè)置界面

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置界面

系統(tǒng)自動校準(zhǔn)

實測展示
下管驅(qū)動使能,電感與上管體二極管并聯(lián)

雙脈沖測試結(jié)果

測試鏈路圖(采樣部分)上管驅(qū)動使能,電感自動切換與下管體二極管并聯(lián)

反向恢復(fù)測試結(jié)果

您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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主營產(chǎn)品:半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)動態(tài)參數(shù)特性測試設(shè)備,MOS-FET管場效應(yīng)管測試儀,可控硅參數(shù)測試設(shè)備,光耦參數(shù)測試儀,二三極管參數(shù)測試儀,碳化硅SiC氮化鎵GaN器件靜態(tài)動態(tài)參數(shù)測試儀設(shè)備,半導(dǎo)體器件特性分析儀,IGBT模塊功率循環(huán)試驗,實時在線高低溫箱,熱流儀,氣流儀
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