詳細介紹
主要技術參數(shù)
● 測量光譜范圍:190nm—2100nm
● 橢偏類型:采用PEM相位調制
● 測量范圍:Psi= 0°-90°,Delta= 0°-360°無死區(qū)
● 入射角: 55°-90°;入射角控制精度:5°
● 樣品臺尺寸:可放置直徑150mm、厚度≥20mm的樣品
功能特點
50KHz高頻PEM相調制技術,測量光路中無運動部件可實
可實現(xiàn)原位的變溫橢偏測試
雙光柵光譜儀系統(tǒng),雜散光抑制水平高
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