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全自動(dòng)粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 粉體電阻率是粉末的一種重要的物理性能之一,堆積或者混合后其電阻率有別于固體和單顆粒的物理性能。如果粉末用于制造人們需要的新材料并希望其在產(chǎn)品中保持顆粒狀態(tài)那么檢...
產(chǎn)品型號(hào):MCP-PD600 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
四探針自動(dòng)Mapping測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 科技快速進(jìn)步,電子半導(dǎo)體的開(kāi)發(fā)及應(yīng)用,往往會(huì)應(yīng)產(chǎn)品的需求而相對(duì)提高成品組合間的品質(zhì),如:阻抗、阻抗率。目前在半導(dǎo)體業(yè)間常需要此阻抗、阻抗率的數(shù)據(jù)來(lái)了解其相互之間...
產(chǎn)品型號(hào):MCP-S330 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 用于研究開(kāi)發(fā)、質(zhì)量管理線,執(zhí)行粉體之物性管理與阻抗率計(jì)Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接,以測(cè)定廣范圍之粉...
產(chǎn)品型號(hào):MCP-PD51 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
四探針儀 詳細(xì)摘要: MCP-T360已經(jīng)停產(chǎn),替代品為MCP-T370.新品MCP-T370之附件均可以應(yīng)用于MCP-T360上。
產(chǎn)品型號(hào):MCP-T360 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Hiresta-UP高阻抗測(cè)試儀 詳細(xì)摘要: MCP-HT450介紹表面阻抗儀主要應(yīng)用于對(duì)樣品表面涂層,表面鍍膜,表面油漆,表面貼面及電路板等形式的高阻抗測(cè)量,使用MCP-HT450以確定樣品的表面是否均勻...
產(chǎn)品型號(hào):MCP-HT450 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Loresta-GP低阻率計(jì) 詳細(xì)摘要: 導(dǎo)電性油漆、導(dǎo)電性糊狀物、導(dǎo)電性塑料、導(dǎo)電性橡膠、導(dǎo)電性薄膜、金屬薄膜、抗靜電材料、 EMI 防護(hù)材料、導(dǎo)電性纖維、導(dǎo)電性陶瓷等。應(yīng)用于低阻抗測(cè)量范圍,帶 4 ...
產(chǎn)品型號(hào):MCP-T610 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Loresta-ax低阻率計(jì) 詳細(xì)摘要: MCP-T370四探針恒定電流測(cè)試原理;一觸式高精度測(cè)量各種材料的表面電阻率。查找只需按下啟動(dòng)按鈕,確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量功能,可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
產(chǎn)品型號(hào):MCP-T370 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Loresta-GX高精度四探針儀 詳細(xì)摘要: 基于4探針測(cè)試原理可以精準(zhǔn)而快速的測(cè)試材料的低電阻特性;4-pin測(cè)試原理可以有效消除探頭接觸樣品的接觸電阻及導(dǎo)線的電阻;MCP系列鍍金彈簧探針針距恒定,且與測(cè)...
產(chǎn)品型號(hào):MCP-T700 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Hiresta-UX精密高阻分析儀 詳細(xì)摘要: Hiresta-UX可攜帶式TFT液晶高性能高阻率計(jì)MCP-HT800可用于生產(chǎn)、質(zhì)量控制、研究開(kāi)發(fā)
產(chǎn)品型號(hào):MCP-HT800 所在地:惠州市 更新時(shí)間:2025-05-14 參考價(jià): 面議 在線留言
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