• 產(chǎn)品名稱：X射線光電子能譜儀- XPS
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Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射線光電子能譜 (XPS) 系統(tǒng)升級了核心 XPS 性能，具有更快的數(shù)據(jù)采集速度、更好的檢測能力和更簡單化學(xué)態(tài)分辨分析。 激動人心的新硬件功能（如 XPS SnapMap）與全新的軟件功能（如 eSP 和 KnowledgeView 功能）整合，有助于進行能譜識別。 此外還有新的選件可供選擇，包括全自動紫外光電子能譜 (UPS)、真空傳送模塊和 Thermo Scientific™ MAGCIS™ 離子源，開啟了實驗新契機。

本儀器設(shè)備是由Thermo Fisher 公司推出的一款高性能、高測試效用于表面分析技術(shù)一款X射線光電子能譜(XPS) 。

儀器型號：Thermo SCIENTIFIC K-Alpha，是一種分析材料表面化學(xué)的技術(shù)。

單色器：K-Alpha X射線單色器可選擇30 µm至400 µm大小的分析區(qū)域，步長 5 µm。將分析區(qū)域調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，使得信號。高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測器使得儀器具有高靈敏探測能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。

深度剖析：K-Alpha用標準離子源深入表面層以下進行分析。自動優(yōu)化源和自動供氣確保優(yōu)良的性能和實驗重復(fù)性。

化學(xué)態(tài)圖像：K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。用于分析樣品上的微小特征，能得到整個樣品臺大小的大樣品圖像。獨特的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將XPS像與儲存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一*功能可用于識別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。

絕緣樣品分析：源采用離子和極地能量的電子，可使得樣品沒有荷電積累。在大多數(shù)情況下，無需荷電校準。