美國CRAIC發(fā)布的FLEX光譜儀集成系統(tǒng)為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)設(shè)定了一個新的標(biāo)準(zhǔn)。使用技術(shù)的FLEX不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜，還同時提供了數(shù)字成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時也提供全波段的成像。具備的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數(shù)設(shè)置、簡單易用、能長時間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。FLEX是工廠產(chǎn)品檢測以及實(shí)驗(yàn)室樣品分析的工具。

    FLEX集成了紫外－可見－近紅外（200-2200nm光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統(tǒng)于一身，同時光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng)都使用了的顯微鏡光路系統(tǒng)。高靈敏度的固態(tài)陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比，并保證設(shè)備能長時間穩(wěn)定地工作。高分辨率的數(shù)字成像系統(tǒng)在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源，類型包括透射光、反射光、熒光等，偏振光和拉曼激光也可以根據(jù)用戶需求提供。精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng)，還同時提供了分析功能，甚至包括薄膜厚度測量。