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詳細(xì)摘要： 型號(hào) Nikon Eclipse E200簡(jiǎn)介 Eclipse E200可提供出色的可操作性和耐用性、以及高質(zhì)量的圖像。它可用于多種目的，例如教育、臨床實(shí)驗(yàn)室使...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Nikon SMZ18簡(jiǎn)介 尼康SMZ18研究級(jí)體式顯微鏡結(jié)合宏觀與微觀成像于一身，無論是單細(xì)胞還是個(gè)體觀察都具有的效果與方便操作。使用革新光學(xué)組件與復(fù)眼...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Nikon 體視顯微鏡SMZ-645 SMZ-800簡(jiǎn)介 Nikon 體視顯微鏡SMZ-645 SMZ-800

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Nikon ECLIPSE Ts2倒置顯微鏡簡(jiǎn)介 ECLIPSE Ts2倒置顯微鏡利用尼康行業(yè)的CFI60光學(xué)系統(tǒng)，和用于透射和落射熒光成像的LED照明，...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Axio Observer簡(jiǎn)介 用于材料檢驗(yàn)、開發(fā)和分析的倒置顯微鏡

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Axio Zoom.V16

詳細(xì)摘要： 型號(hào) EVO 18

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Smartzoom 5簡(jiǎn)介 日常檢測(cè)和失效分析的自動(dòng)化數(shù)碼顯微鏡

詳細(xì)摘要： 型號(hào) MarSurf CM 簡(jiǎn)介 便攜式 3D 表面測(cè)量?jī)x器，用于生產(chǎn)環(huán)境 – 非接觸，與材料無關(guān)，而且速度快.

詳細(xì)摘要： 型號(hào) MarSurf WI 100簡(jiǎn)介 MarSurf WI 100 是一臺(tái)*的表面分析儀，用于表面的三維測(cè)量和分析 - 非接觸，與材料無關(guān)，而且速度快.

詳細(xì)摘要： 型號(hào) MarSurf WI 50簡(jiǎn)介 MarSurf WI 50 是一臺(tái)*的表面分析儀，用于表面的三維測(cè)量和分析 - 非接觸，與材料無關(guān)，而且速度快..

詳細(xì)摘要： 型號(hào) 尼康 50i/55i 正置顯微鏡簡(jiǎn)介 尼康 50i/55i 正置顯微鏡

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Nikon A1/A1R+簡(jiǎn)介 A1/A1R+是日本尼康共聚焦產(chǎn)品系列中的作品，從畫質(zhì)、靈敏度、成像速度、多功能性、操作舒適性等多角度滿足了用戶對(duì)熒光顯微...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) 尼康 80i/90i 正置顯微鏡簡(jiǎn)介 尼康 80i/90i 正置顯微鏡

詳細(xì)摘要： 型號(hào) 賽多利斯電子天平BSA224S簡(jiǎn)介 賽多利斯電子天平

詳細(xì)摘要： 型號(hào) 3Flex簡(jiǎn)介 美國(guó)麥克儀器公司的3Flex材料表面表征分析儀設(shè)計(jì)用于測(cè)量從微孔到介孔全范圍的孔徑分析，可實(shí)現(xiàn)三站同時(shí)微孔介孔分析，并可測(cè)量相對(duì)壓力低至1...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Horiba激光粒度分析儀 Partica mini LA-350簡(jiǎn)介 HORIBALA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價(jià)格低、體積小巧的粒徑分析儀...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2簡(jiǎn)介 SZ-100V2 只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Z...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) Horiba激光粒度分析儀Partica LA-960V2簡(jiǎn)介 LA-960V2 是一款高精度粒徑分析儀，能夠測(cè)量NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子，精度達(dá) 0.6%...

詳細(xì)摘要： 型號(hào) 全自動(dòng)數(shù)字式激光粒度分析儀Saturn DigiSizer II簡(jiǎn)介 使用麥克公司以CCD為基礎(chǔ)的檢測(cè)器，Saturn DigiSizer激光粒度儀在分析...