平行平晶

157 系列

特點

• 用于對千分尺測量面的平行度和平面度進行檢測。

• 每組包括 4 種厚度。

• 帶有配套的攜帶箱。

技術參數

平面度: 0.1μm   平行度: 0.2μm 直徑: 30mm

借助于平行平晶產生的干涉條紋圖案可對測量表面的平行度進行檢測

通過下述方法可確定所測量表面間的平行度：在測砧上夾緊平行平晶，從心軸方向觀察在測力作用下產生的干涉條紋的數量。當平行平晶約為1μm (0.32μm x 3=0.96μm) 時，從測砧邊緣觀察的條紋數一定不會超過一。

性能參數

公制型

千分尺檢測范圍  貨號   平行平晶種類(平行平晶厚度)

0-25mm        157-903 12.00, 12.12, 12.25,

12.37mm

25-50mm       157-904 25.00, 25.12, 25.25,

25.37mm

英制型

千分尺檢測范圍 貨號   平行平晶種類(平行平晶厚度)

0-1"         157-901 .5000", .5062",.5125", .5187"

1-2"         157-902 1.0000", 1.0062",1.0125", 1.0187"