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詳細介紹
產(chǎn)品用途：
高低溫（濕熱）低氣壓試驗箱用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫或高低溫濕熱低氣壓環(huán)境下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗，并或同時對測試件通電進行電氣性能參數(shù)的測量。
產(chǎn)品特點：
新型制冷：-120℃超低溫制冷能力，滿足用戶超低溫試驗需求
有效節(jié)能：低溫試驗時降低電力消耗30%以上
性能突出：性能指標(biāo)優(yōu)于國、軍標(biāo)要求
緊湊靈便：外形緊湊，靈活移動，節(jié)約占地空間
操作簡捷：人性化操作界面，一建啟停，無需培訓(xùn)
多重保護：確保人員、試件及設(shè)備無憂使用
執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10590-2008 低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗方法
GB/T 2423.26-2008 高溫/低氣壓綜合試驗方法
GJB 150.2A -2009 低氣壓高度試驗方法（快速降壓除外）
GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法
GJB 150.24A-2009 溫度-濕度-振動-高度試驗方法（振動除外）
GJB 360A-2009 電子及電氣元件試驗方法105低氣壓試驗的要求
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
技術(shù)指標(biāo)
| 產(chǎn)品名稱 | 高低溫（濕熱）低氣壓試驗箱 | ||||
| 產(chǎn)品型號 | HZ-XY-TL/THL100 | HZ-XY-TL/THL250 | HZ-XY-TL/THL500 | HZ-XY-TL/THL1000 | |
| 內(nèi)箱容積 | 升/L | 100 | 250 | 500 | 1000 |
| 內(nèi)箱尺寸 | W*D*H（cm） | 45×45×50 | 60×60×70 | 80×80×80 | 100×100×100 |
| 外形尺寸 | W*D*H（cm） | 98×100×175 | 110×130×180 | 125×150×198 | 145×180×228 |
| 性能指標(biāo) | 溫度范圍 | A、-40℃～150℃ B、-70℃～150℃ C、-120℃～150℃ | |||
| 濕度范圍 | A、10%～98%RH B、 20%～98%RH C、30%～98%RH (可選擇帶濕度) | ||||
| 溫度波動度 | ≤±0.5℃(常壓，空載) | ||||
| 溫度均勻度 | ≤2.0℃(常壓，空載) | ||||
| 溫度偏差 | ≤±2.0℃(常壓，空載) | ||||
| 升溫速率 | RT～+150℃≤40min | ||||
| 降溫速率 | A、+25℃～-40℃≤30min B、+25℃～-70℃≤80min | ||||
| 氣壓范圍 | 常壓～0.5kPa | ||||
| 降壓時間 | 常壓～1.0kPa≤30min（箱內(nèi)干燥時） | ||||
| 壓力偏差 | ≥40kPa：±2kPa；40kPa～2kPa：±5%；≤2kPa: ±0.1kPa； | ||||
| 壓力恢復(fù)時間 | ≤10kPa/min | ||||
| 制冷方式 | 壓縮機制冷 | ||||
| 冷卻方式 | F、風(fēng)冷 W、水冷 | ||||
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