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詳細介紹
| 產(chǎn)品介紹： Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。 X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。 Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。 樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。 設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。 軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。 產(chǎn)品指標(biāo)： 測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù) 測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層 測量下限：0.003um 測量上限：30-50um（以材料元素判定） 測量層數(shù)：10層 測量用時：30-120秒 探測器類型：Si-PIN電制冷 探測器分辨率：145eV 高壓范圍：0-50Kv，50W X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類； 光管靶材：Mo靶； 濾光片：專用3種自動切換； CCD觀察：260萬像素 微移動范圍：XY15mm 輸入電壓：AC220V，50/60Hz 測試環(huán)境：非真空條件 數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式 準(zhǔn)直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm 軟件方法：FlexFP-Mult 工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義 樣品腔：330×360×100mm 標(biāo)準(zhǔn)配件 樣品固定支架1支 窗口支撐薄膜：100張 保險管：3支 計算機主機：品牌+雙核 顯示屏：19吋液晶 打印機：噴墨打印機 可選配件 可升級為SDD探測器 |
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