快溫變試驗(yàn)箱，適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo) 試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)*合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有水平，能夠適 應(yīng)長期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法

1）GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

2）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

3）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

4）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

5）GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) (IEC 60068-2-78：2012, IDT)；

6）GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）(IEC 60068-2-30:2005, IDT)；