ARL QUANT’X EDXRF 的功能變得更加*！除了 Peltier 冷卻 Si(Li) 檢測器，現在該儀器還安裝了厚 1mm、面積 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能夠以出色的分辨率處理高計數率，而且通常比 Si(Li) 檢測器薄得多。常見厚度為 0.45mm，更高能量下的檢測效率較差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，達到 1mm。與基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表現出更好的靈敏度，檢測極限增加到原來的 2 倍，還適用于 Cd 和 Sn 等重金屬元素。另外，計數時間還可以減少為原來的 1/4！新型 SDD1000 結合了 SDD 和 Si(Li) 檢測器的優(yōu)點。

的技術

• Peltier Si(Li) 冷卻檢測器 或者 1mm 厚的硅漂移檢測器 (SDD)。
• 數字脈沖處理 (DPP) 技術。
• 高性能、多元素分析。
• 選配的 Thermo Scientific™ UniQuant™ 軟件可提供優(yōu)秀的無標樣分析。

主要特點

• 的痕量分析靈敏度。
• 高測量吞吐量，適合過程控制。
• 的非典型材料分析算法。
• 出色的樣品處理靈活性。
• 機械簡單性和可靠性。
• 緊湊、占地面積小，便于運輸，適合現場測量。
• 快速、簡單的安裝，全面的現場定制化。
• 包含完整的實驗室啟動包。
• 可進行空氣、真空和氦氣中的樣品分析。
• 經過驗證的硬件和一體化的軟件。
• 現場協(xié)作式方法開發(fā)。
• 全面的技術應用支持。
• 成百上千種應用的專業(yè)知識。
• 大樣品室、攝像機以及各種范圍的準直器。

功能*、簡單易用的 Thermo Scientific™ WinTrace™ 軟件

• 無標樣和半無標樣分析。
• 含標準樣品的基本參數 (FP) 和經驗方法。
• 多層厚度和成分。
• 無限制的元素，無限制的標準品數量。
• 多種激發(fā)條件，帶自動化操作。

選配的 UniQuant 無標樣分析

• 比任何其他 FP 分析更進一步，可選的 UniQuant 程序收集從氟到鈾的所有可能元素發(fā)出的所有譜線。這種完整的樣品光譜曲線讓 UniQuant 能夠自動校正所有可能的重疊和背景效應。這些效應在能量色散光譜中尤為復雜。
• 始終可以分析所有元素。
• 每份樣品的物理特性，例如面積、厚度和質量均納入計算。
• 校正 X 射線管輸出的長期變化。
• 多種多樣的可選報告級別和格式，可以為任何類型的用戶清楚地呈現結果。
• UniQuant 在出廠時經過全面預先校準，可開箱即用。

ARL Quant’X 熒光能譜儀具有廣泛的應用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測度, 考古文物保護,刑偵痕量分析,營養(yǎng)品分析,磁性介質和半導體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測量,土壤,催化劑,礦石,原材料等.用于材料的無損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測器 從氟至鈾的多元素分析測定的濃度范圍一般可以從ppm級至99% .

儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關重要，禹重和賽默飛為您提供培訓、儀器服務計劃或按需維修服務，幫助您獲得準確可靠的結果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的性能對提高您的生產力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。

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