μ Phase高精度干涉儀用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，被國家，以及各大天文、光電研究所應(yīng)用于精密光學(xué)檢測，測量精度及穩(wěn)定性已得到研究機構(gòu)的廣泛肯定。

應(yīng)用范圍：

可用于測量平面和球面光學(xué)零件

可完成各種類型的反射和透射檢測

可采用透射法檢測雙膠合透鏡

曲率半徑測量

非球面、柱面、輪胎面等面型的測量

大型平面的檢測

光學(xué)材料的均勻性檢測

理想的成盤拋光分塊鏡面型檢測

典型應(yīng)用

μPhase® SPHERO UP， μPhase® PLANO UP，μPhase® Plano Down

l 用于測量不同的平面和球面光學(xué)零件

l 操作直觀而簡單，適合非專業(yè)人士操作

l 測量范圍：

μPhase® Plano Down：平面φ≤2 mm 至 150 mm

μPhase® PLANO UP：平面φ≤2 mm 至 100 mm

μPhase® SPHERO UP：球面，曲率半徑（凸面）2mm—225mm，直徑55mm

球面，曲率半徑（凹面）-3mm—-570mm

l 結(jié)構(gòu)緊湊，占用空間下，可靈活的與產(chǎn)線結(jié)合

μPhase® Vertical

l 適用于廠房、車間、實驗室的標(biāo)準干涉儀檢測系統(tǒng)

l 立式檢測，結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小

l 標(biāo)配一個沿Z軸方向電動平移的平臺，可選配第二個平臺

l 傾斜及X/Y平移精調(diào)

l 可完成各種類型的反射與透射檢測

l 可采用透射法檢測雙膠合透鏡

l 凹面與凸面球面鏡的檢測范圍：標(biāo)準曲率半徑范圍：1mm-225mm，直徑55mm（采用50mm物鏡μLens PLANO 50）

l 集成半徑測量單元

l 可選CGH，用于測量非球面、柱面、輪胎面等

l Z軸方向設(shè)置導(dǎo)軌電機，電動升降

l 曲率半徑實現(xiàn)一鍵式自動測量

μPhase® UNIVERSAL 100

l 用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統(tǒng)

l 球面測量范圍：凹面曲率半徑-3000mm（提供相應(yīng)導(dǎo)軌）

l 平面測量范圍：98mm

l 半徑測量系統(tǒng)集成導(dǎo)軌和光柵尺

l 適合長焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測

l 與市場上通用的4英寸標(biāo)準球面物鏡相兼容

l 可選旋轉(zhuǎn)對稱非球面的檢測配件，檢測范圍10mm-80mm，CGH檢測輪胎面、柱面等

μPhase® Plano 300

l 理想的大型平面的檢測系統(tǒng)，光學(xué)材料的均勻性檢測系統(tǒng)

l 理想的成盤拋光分塊鏡面形檢測系統(tǒng)

l 測量范圍60-300mm

l 立式檢測系統(tǒng)，其它檢測方式根據(jù)要求可訂制

l 具有重型光學(xué)元件的支承、調(diào)整等操作功能。

技術(shù)規(guī)格：