H3TRB高溫高濕老煉檢測系統(tǒng)適用范圍:適用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、軸向、徑向等各種封裝分立器件進行高溫反偏試驗:如各種二極管、三極管、場效應管、可控硅、橋堆等。
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產品關鍵詞：高溫反偏老化試驗箱，光電子器件老化系統(tǒng)，電容器高溫老化系統(tǒng)，高溫高濕偏置試驗系統(tǒng)，光電耦合器專用設備，發(fā)光二極恒流高溫電流壽命試驗，大功率晶體管老化系統(tǒng)，IGBT模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)，集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)、DC/DC模塊高溫老化系統(tǒng)、三端穩(wěn)壓器高溫壽命老化系統(tǒng)、高溫反偏老化系統(tǒng)、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統(tǒng)、二極管恒流老化系統(tǒng)、二極管全動態(tài)老化系統(tǒng)、OPLIFE、功率循環(huán)、IGBT功率循環(huán)老化系統(tǒng)、LED老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)、可控硅老化系統(tǒng)、老化板、老化測試座、試驗電源 等等

高溫試驗箱

型號

廣五所 或 ESPEC PH-201

試驗腔尺寸

600*600*600(mm)

風道設計

水平橫向循環(huán)風道設計

試驗溫度范圍

150 / 175 / 200℃

溫度均勻性

150℃±3℃(空載)； 試驗溫度波動度：±0.5℃

容量

獨立試驗區(qū)數量

4~8個區(qū)

試驗通道

16個

單板工位數 / 總容量

80工位 / 1280工位

試驗電源

試驗電源數量

4~8臺（一臺電源對應一個試驗區(qū)）

試驗電源量程

Max1200V

驅動檢測板

驅動板數量

16塊

電壓檢測范圍

0.0V～1200.0V； 分辨率：0.1V； 精度：±(1％＋1LSB)

漏電流檢測范圍

0.0μA～50.0mA； 分辨率：0.1μA； 精度：±(1％＋1LSB)

老化板

基板材質

標配高Tg基板

耐溫范圍

150℃ / 175℃ / 200℃ 可選

老化板尺寸

290*600(mm)

整機信息

尺寸

1430W*1400D*2000H(mm)

電網要求

A.C.220V±10％ / 50Hz

功率 / 重量

8KW / 600KG