產(chǎn)品介紹:

HD-2700是一款200kV的場發(fā)射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡，HD-2700采用球差校正技術(shù)，大大減小了透鏡球差對分辨率的影響，從而可以實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時(shí)，HD-2700是目前少數(shù)以掃描透射（STEM）功能為主的透射電鏡，大會聚角的STEM功能配合場發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級的電子束，使得原子級分辨率的圖像觀察和元素分析成為了可能，大大提高了電鏡的觀察和分析能力。

主要特點(diǎn):

高分辨觀察

利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像（標(biāo)準(zhǔn)型）

大束流分析

約為非校正的STEM探針電流的10倍，可以進(jìn)行高速、高靈敏度能譜分析，可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得元素的面分布圖，使得檢測微量元素成為可能。

簡化的操作

提供了專用的GUI自動調(diào)節(jié)球差校正器

整體的解決方案

樣品桿與日立FIB兼容，提供了納米尺度的整體解決方案，從制樣到數(shù)據(jù)獲得和最終分析

多種評價(jià)和分析功能可選
可同時(shí)獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像；可以配備ELV-2000型實(shí)時(shí)元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時(shí)獲得)；可以同時(shí)觀察DF-STEM像和衍射像；可以配備超微柱頭樣品桿進(jìn)行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。

應(yīng)用領(lǐng)域:

HD-2700作為一款場發(fā)射球差校正的掃描透射電鏡，不僅具有高分辨率的圖像觀察能力，同樣具有高空間分辨率的分析能力，配合EELS和EDS可以實(shí)現(xiàn)原子級元素的分析。HD-2700具有多種成像模式，可以滿足大部分樣品的觀察需求，其中日立的SE成像模式可以獲得透射電鏡無法獲得的樣品表面的信息，同時(shí)又比普通掃描電鏡具有更高的分辨率，可以實(shí)現(xiàn)對樣品表面的高分辨觀察。

產(chǎn)品圖片

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