詳細(xì)介紹
■ 技術(shù)特點(diǎn):
在更短時(shí)間內(nèi)收集更豐富的信息
加快納米斷層成像和納米加工的速度:將低電壓 SEM 性能與高達(dá) 100 nA 的 FIB 束流相結(jié)合。
獲取的信息:運(yùn)用多探測器采集及 同步刻蝕與成像能力 。
使用 GEMINI 技術(shù)和可選配的 ATLAS 3D 軟件包檢測高達(dá) 50 k x 40 k 像 素的大視野范圍。
流程控制
在對環(huán)境條件要求苛刻的長時(shí)間實(shí)驗(yàn)中具備穩(wěn)定性,并能夠提供均勻一致的光束剖面。
采集時(shí)可以完成系統(tǒng)參數(shù)的實(shí)時(shí)更改,如探針電流或加速電壓,而無需對圖像進(jìn)行調(diào)整。 圖形用 戶 界面操作直觀簡便。
應(yīng)用領(lǐng)域
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