詳細(xì)介紹：

入式恒溫恒濕試驗室適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。※需符合國際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達(dá)到國際間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)。

詳細(xì)規(guī)格：

* 以上規(guī)格僅供參考，如有變更不另行通知。

應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)

1. GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

2. GB/T10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

3. GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

4. GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件

5. GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法

6. GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法

7. GB/T2423.3-93 濕熱試驗箱試驗方法

8. GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法

9. GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法

10. IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

11. IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

12. IEC60068-2-14 試驗N

13. GJB150.3 高溫試驗

14. GJB150.4 低溫試驗

15. GJB150.9 濕熱試驗

注：溫濕度分布均度測試方法依照內(nèi)箱離各邊1/10距離有效空間量測(GB5170.18-87)