產(chǎn)品特點

1. 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）

2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉換器）

3. Multi Ray. 運用基本參數(shù)法（FP）軟件，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析。

4. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄膜鍍層厚度測量

相對（比）模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊?？赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。

Multi-Ray 金屬行業(yè)精確定量分析軟件?？赏瑫r分析8種元素。*小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt

Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數(shù)學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。

6. Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統(tǒng)

7. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù)，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等

8. 自動移動平臺，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有*多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測，檢測層數(shù)范圍1-6層；檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm－99.99%。

2. 全自動操作平臺，平臺移動范圍可達160*160*100mm(X*Y*Z)；

3. 激光定位和自動多點測量功能；

4. 檢測的樣品可以為固體、液體或粉末；

5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；

6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析；

7. 操作簡單、精準無損、高品質、高性能、高穩(wěn)定性，快速檢測（5-40秒依配置而定）；

8. 配置：SDD探測器、超長壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源，儀器使用壽命長。

9. 超高分辨率：125±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高，檢測越精準，這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標）；

10. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件；

11. 軟件升級；

12. 無損檢測，一次性購買標樣可使用；

13. 使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供保姆式服務；

14. 環(huán)保RoHS分析功能，實現(xiàn)鍍層、環(huán)保和成份分析同時檢測；

15. 具有遠程服務功能，在客戶請求的情況下，可遠程進行儀器維護；

16. RoHS規(guī)定的元素測試，待測物質的Sb/As/Se/Ba元素，鹵素要求的Cl/Br元素，八大有害重金屬：鉛：Pb、汞：Hg、鎘：Cd、銻：Sb、硒：Se、砷：As、鋇：Ba、鉻：Cr。