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詳細介紹
TM系列臺式電子顯微鏡專用能譜儀（EDS）Quantax75
操作簡單且直觀
*和TM4000Plus搭配應用實例
*探測器內置型
(制造商: 德國Bruker nano GmbH)
特點
通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動到指定位置，可實時確認其譜圖
雙屏顯示
僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時，實時顯示點分析、線分析結果等多種分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次測試即可獲取點分析、線分析、面分布結果
點分析
可根據點位置移動實時追蹤譜圖，輕松確認目標元素。
實時在線譜峰剝離面分布
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結果。
檢測器
| 項目 | 內容 |
|---|---|
| 探測器類型 | 硅漂移探測器 |
| 探測器面積 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時不高于129 eV) |
| 可檢測元素 | B5～Cf98 |
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