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參考價(jià)	面議

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

TM系列臺(tái)式電子顯微鏡專(zhuān)用能譜儀（EDS）Quantax75，操作簡(jiǎn)單且直觀*和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例*探測(cè)器內(nèi)置型(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)特點(diǎn)通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布移

詳細(xì)介紹

TM系列臺(tái)式電子顯微鏡專(zhuān)用能譜儀（EDS）Quantax75

操作簡(jiǎn)單且直觀

*和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例

*探測(cè)器內(nèi)置型
(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)

特點(diǎn)

通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動(dòng)到指定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。

超高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果

點(diǎn)分析

可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。

實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布

分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。

檢測(cè)器

項(xiàng)目	內(nèi)容
探測(cè)器類(lèi)型	硅漂移探測(cè)器
探測(cè)器面積	30 mm²
能量分辨率	148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα?xí)r不高于129 eV)
可檢測(cè)元素	B₅～Cf₉₈

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TM系列臺(tái)式電子顯微鏡專(zhuān)用能譜儀（EDS）Quantax75

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹