詳細(xì)介紹
便攜式TOFD超聲波探傷儀檢測儀
A 優(yōu)點
→ 全中文菜單友好界面,鍵盤式操作模式,方便快捷;
→ 超高亮彩色液晶顯示,可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變;
→ 超聲衍射波成像檢測,解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查
厚度及檢測效率局限性,節(jié)約探傷成本;
→ 集A掃、B掃成像、TOFD成像、導(dǎo)波成像等多能一體;
→ 合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù),領(lǐng)潮行業(yè),有效提高缺陷測量精度;
→ 波形相位穩(wěn)定,信噪比高,缺陷識別更清晰;
→ 內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝;
→ 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各種工件檢測要求;
→ 多通道TOFD檢測實現(xiàn)大厚壁焊縫一次性全面覆蓋;
→ 超大機(jī)內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡(luò)傳輸功能;
→ 高分子復(fù)合材料機(jī)身,有效防震、抗跌落;
→ 集成數(shù)據(jù)電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗小;
→ 高性能安保鋰電,模塊插接,一機(jī)兩電,超長續(xù)航。
→采用歐盟鑒定標(biāo)準(zhǔn)EN12668-1:2010;提供中英文歐標(biāo)鑒定報告各一份
B探傷功能
掃查方式:對焊縫進(jìn)行全面非平行、平行掃查
缺陷定位:分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度
缺陷顯示:直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點
A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力
B掃成像:實時顯示缺陷截面形狀
TOFD掃成像:實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對缺陷質(zhì)量進(jìn)行評價
C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內(nèi)的分區(qū)掃查,可擴(kuò)展至400mm厚度。
D 數(shù)據(jù)分析
直通波去除:近表面缺陷專用處理工具,提高近表缺陷分析精度
橫豎調(diào)整:滿足不同現(xiàn)場操作習(xí)慣
SAFT:有效提高缺陷測量精度的功能
E數(shù)據(jù)存儲與輸出
→預(yù)先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù),方便存儲、調(diào)出、離線分析、
復(fù)驗、打印、通訊傳輸。
→超大內(nèi)存容量,單次掃查最多可記錄40米。
→掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。
→支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡(luò)傳輸、外接顯示器等。
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