T 450S鍍層測厚儀

下照調(diào)焦式帶移動平臺

T450S 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析， 同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

產(chǎn)品性能

穩(wěn)定性 : T450S 有著良好的長期穩(wěn)定性，不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

無需制備樣品 :無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

綜合性能 :鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計功能

技術(shù)參數(shù)

應(yīng)用領(lǐng)域

可用于電子元器件、半導(dǎo)體、PCB、FPC、LED 支架、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器、端子、衛(wèi)浴潔具、首飾飾品多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量及材料分析，低成本、高效率。

工作特點

2測量5層 (4層鍍層+底材層)鍍層,同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線

2測量精度高、穩(wěn)定性好,測量結(jié)果精確至uin

2快速無損測量,測量時間短,10s 內(nèi)得出測量結(jié)果

2可分析固體、溶液;定性、半定量和定量分析

2材料鑒別和分類檢測,材料和合金元素分析,元素光譜定性分析

2*的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、值、最小值等

2結(jié)果輸出:直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel 文件;報告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等

2測量位置預(yù)覽功能;高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30 倍

2提供服務(wù)及技術(shù)支持

系統(tǒng)安全性

2簡單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的

2主管人員可進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù)

2系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄

2自動鎖定功能防止未的操作

2樣品室門開閉傳感器

2X射線警示燈

2前面板安全鈕