一、設(shè)備基本技術(shù)指標

名稱：小型高溫反偏試驗系統(tǒng)

設(shè)備型號：AS-HTRB-C8

內(nèi)箱尺寸W×H×D mm：450×450×450

外箱尺寸W×H×D mm：720×1620×1320

內(nèi)箱容積 :91L

溫度范圍：RT+10～+200℃

溫度波動度：±2℃ ≤100℃時；±3℃ ≤150℃時；

短路保護：板上裝有速熔陶瓷保險絲，當(dāng)被試器件短路時，保險絲熔斷保護。

使用范圍：各種封裝的二極管、三極管、SCR、MOSFET、IGBT等高溫反偏試驗。

試驗線路及試驗方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標準要求。

制熱與溫度循環(huán)系統(tǒng)：

加熱裝置：長壽命鎳鉻合金電熱絲式加熱器

加熱方式：無觸點等周期脈沖調(diào)寬，平衡式調(diào)溫 P.I.D + P.W.M + S.S.R

導(dǎo)風(fēng)板設(shè)計：可調(diào)式導(dǎo)風(fēng)板設(shè)計,有效提升溫、濕度分布均勻性.

循環(huán)裝置：采用防潮兼散熱設(shè)計,不銹鋼加長軸心回圈馬達

循環(huán)風(fēng)輪：耐高低溫鋁合金多翼式回圈扇輪

出風(fēng)循環(huán)：風(fēng)循環(huán)方向可根據(jù)模塊的擺放方向設(shè)計，以保證試樣處于溫度均勻區(qū)

二、試驗?zāi)芰?/span>

試驗?zāi)芰?電壓2000V，試驗溫度175℃。

通道分區(qū):8個老化試驗通道，4個獨立直流電源。一組電源對應(yīng)2個試驗通道，整機可同時試驗4個不同 規(guī)格的器件。（電源可選）

滿載容量:80顆/每通道×8通道＝640顆。（數(shù)量，具體放置數(shù)量和封裝有關(guān)）

插板骨架:材料：304不銹鋼板材料，高溫下長時間工作不生銹；