超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x基于光譜反射原理， 即在一定的波長(zhǎng)光波下，通過(guò)追蹤被帶有層狀結(jié)構(gòu)的基片反射和/或投射的光束來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)量膜層厚度。測(cè)量薄膜厚度范圍可達(dá)1nm -1000 um。一般20ms可以得到測(cè)量結(jié)果。而且超高精度MProbe薄膜測(cè)厚儀尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x非常適合實(shí)驗(yàn)室，產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)，研發(fā)使用。

超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)：

l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用廣泛：(a) 太陽(yáng)能光伏薄膜領(lǐng)域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe；(b) LCD, FPD領(lǐng)域-ITO, Cell Gaps, Polyamides；(c) 光學(xué)薄膜領(lǐng)域-介質(zhì)濾波器，加硬膜，減反射膜；(d) 半導(dǎo)體和電解質(zhì)領(lǐng)域-Oxides, Nitrides, OLED stack

l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x即時(shí)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析

l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x*的數(shù)據(jù)庫(kù)：已經(jīng)有了500多種常用的材料參數(shù)，新的材料也容易添加，并能根據(jù)需要添加相應(yīng)的材料特性參數(shù)-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x連接方便，使用自如：不管實(shí)在實(shí)驗(yàn)室獨(dú)立使用，還是在研發(fā)或者是工廠連續(xù)生產(chǎn)中不間斷在線持續(xù)監(jiān)測(cè)膜層厚度，都能在10分鐘內(nèi)完成安裝，與電腦或是網(wǎng)絡(luò)的連接十分方便

l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量數(shù)據(jù)完整：除了膜層的厚度，還能測(cè)量光學(xué)參數(shù)和表面平整度

l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測(cè)量?jī)x使用人性化，功能*：一鍵式操作即可完成膜層厚度測(cè)量和分析；*的工具-仿真功能，內(nèi)部自我糾正，多樣品測(cè)量，動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)和產(chǎn)品批量監(jiān)測(cè).

產(chǎn)品尺寸	8″x 4″x10″
測(cè)量精度	<0.01nm or 0.01%
穩(wěn)定性	<0.02nm or 0.03%
光斑尺寸	2mm to 3um
樣品大小	可以小至1 mm
測(cè)量范圍	1 nm - 1000 um
波長(zhǎng)范圍	200nm -8000nm