-
膜厚測試儀器-橢偏儀 紫外分析儀 詳細摘要: 本設備基于雙旋轉補償器調制技術一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜,可實現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學常數(shù)的快速分析表征。
產(chǎn)品型號: 所在地:上海 更新時間:2025-03-15 參考價: 面議 在線留言 -
光譜橢偏儀 紫外分析儀 詳細摘要: SE-VE橢偏儀是基于單旋轉補償器調制技術一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜,可實現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學常數(shù)的快速分析表征。
產(chǎn)品型號: 所在地:上海 更新時間:2025-03-13 參考價: 面議 在線留言
制藥網(wǎng)
