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涂層測厚儀MiniTest2500/4500

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更新時間:2026-07-07 08:40:05瀏覽次數:180

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產品簡介

德國EPK(Elektrophysik)公司涂層測厚儀MiniTest2500/4500作為MiniTest1100-4100系列的升級產品,為涂層測量領域的廣泛任務提供了多種探頭、不同的校準方法和評估選項。MiniTest 2500/4500涂層測厚儀具有IP65防護等級, 人機工程學設計,高對比度顯示屏和背光鍵盤,以及其他有用的功能。可存儲多達200萬個測量值,通過USB接口向計算機傳輸數據。......

詳細介紹

功能介紹

 

MiniTest2500

MiniTest4500

   可存儲的讀數總數
  
*大批組數量
  
具有獨立校準值的應用程序存儲數量
  
具有相同校準值的批組每個應用程序存儲的批組數量

2000000
1
-
-

2000000
超過9500
99
99

   統(tǒng)計功能(每批組)

kvar, n, max., min.

kvar, n, max., min., CP, CPK

   校準

-

如果無基材使用,則通過涂層進行校準(CTC)

   補償功能

-

用于從讀數中加/減一個恒定值

   極限設置(用戶自定義)

-

超出限制時的光信號和聲音信號報警

   測量單位

μm, mm, cm, mils, inch

   接口
  
可升級接口

USB
-

USB和藍牙 4.0
報警輸出,腳踏開關觸發(fā),RS 232接口

   電源/每次更換電池的工作時間

3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(不使用背光)

   規(guī)范和標準

DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882;ISO 19840;
ASTM B244,B499, D7091, E376

   顯示

   53 x 46 mm,帶背光

   操作溫度/存儲溫度

   10 ~60°C / –20 ~ 70°C

   尺寸/重量

53mm x 89mm x 36mm/ 320g(儀器包括電池),橡膠保護套90g

   防護等級

IP 65

可選探頭

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

*小曲率
半徑(凸/凹)

*小測量
區(qū)域直徑

*小基
體厚度

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%+0.7μm)

0.75/5mm

3mm

0.1mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%+10μm)

5/16mm

20mm

1mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%+20μm)

10/30mm

40mm

2mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%+50μm)

50/200mm

300mm

2mm

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%+0.5μm)

1/5mm

2mm

50μm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%+1μm)

2.5mm

2mm

100μm

N10

0-10mm

10μm

±(1%+25μm)

25/100mm

50mm

50μm

N20

0-20mm

10μm

±(1%+50μm)

25/100mm

70mm

50μm

N100

0-100mm

100μm

±(1%+0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

F:0.5mm/N:50μm

FN1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%+1μm)

平面/6mm

5mm

F:0.5mm/N:50μm

F2HT

0-2000μm

0.2μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

注:

F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N
型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN
兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
FN1.6/90
為直角探頭,用于管內測量
N.08Cr
用于測量銅上鍍鉻。
F2HT
為高溫探頭,有兩款,允許在高達250°C或350° C表面溫度的熱表面上進行涂層厚度測量

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