• 新型的TXS光譜儀可在HHG光束（高頻光束）、X射線自由電子激光器和臺(tái)式X射線激光器上進(jìn)行準(zhǔn)確的光子診斷。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
  
• 對(duì) X 射線光譜進(jìn)行指紋識(shí)別以進(jìn)行在線光束表征，透射光束保持不受干擾，透射率大于 90%，以便進(jìn)一步用于實(shí)驗(yàn)(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
• 單次可測(cè)量2 keV 和 4 keV 之間的光子能量。

通過(guò)簡(jiǎn)單地將反向散射探針與材料樣品交換，hardLIGHT TXS即可用于X射線發(fā)射光譜測(cè)量（XES）。

軟X射線范圍提供了對(duì)許多材料的化學(xué)狀態(tài)的高靈敏度通道，例如，在2kV下對(duì)硫的研究為電池研究提供了重要的參考。

X-ray absorption spectroscopy (XAS) at the sulfur K-edge (data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)