詳細說明

產(chǎn)品品牌：Bruker

產(chǎn)品產(chǎn)地：德國

產(chǎn)品型號：NP Flex

產(chǎn)品描述：布魯克NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。

為大尺寸工件加工提供非接觸準確測量布魯克的NPFlex 三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，可廣泛用于醫(yī)療植入，航空航天、汽車或加工上的大型、異型工件的測量。基于白光干涉原理，NPFlex 為用戶提供超過接觸式方法所能達到的更大數(shù)據(jù)量、更高分辨率和更好的重復性，使它成為獨立或者互補型的測量方案。

       開放式的龍門設計克服了以往某些零件由于角度或取向造成的測量困難，現(xiàn)在NPFlex可實現(xiàn)超過300度的測量空間。NPFlex的靈活性、數(shù)據(jù)準確性和測試效率為加工行業(yè)提供了一種簡單的方法，來實現(xiàn)其更苛刻的加工要求、加工工藝和更好的終端產(chǎn)品。

        布魯克NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題造成的測量困難。NPFLEX是第yi臺針對大型、異型工件進行非接觸測量，獲得微米級、毫米級樣品形貌特征的三維表面測量系統(tǒng)。

其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度

· 創(chuàng)新性的空間設計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多

· 開放式龍門、定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

三維表面信息測量

· 每次測量均可獲取多種分析結果

· 更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析

垂直方向可達納米級分辨率，提供更多的細節(jié)

· 干涉技術實現(xiàn)每一個測量象素點上亞納米級垂直分辨率

· 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

快速獲取測量數(shù)據(jù)，保證測試過程迅速

· 少的樣品準備時間和測量準備時間

· 比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)