詳細介紹
詳細說明
XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能*的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm²的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立化的激發(fā)條件。
特點:
● 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器(SDD),能高精度地測量薄的鍍層
● 極耐用的設計結構,能以極出色的長期穩(wěn)定性用于連續(xù)測量
● 可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續(xù)測量
● 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點,使得樣品定位變得快速而簡便
應用:
鍍層厚度測量
● 測量極薄鍍層,如電子和半導體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
● 測量汽車制造業(yè)中的硬質涂層
● 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測量
材料分析
● 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑒別
● 分析黃金和其他貴金屬及其合金
● 測定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量
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