AZtecLive是一種EDS分析方法，可以改變用戶在SEM中進行樣品篩選的方式。它將實時電子圖像與實時X射線元素成像結(jié)合起來，為客戶提供了一種更為直觀的與樣品互動的新方式。Ultim Max采集效率可達以往的17倍，而且不會降低精度。無論您是想做更大區(qū)域的面掃描，或者在每個點分析中獲得更好的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，更快地采集數(shù)據(jù)，還是研究小的納米結(jié)構(gòu)，Ultim Max都是SEM中X射線分析的理想工具。 

速度 

低噪音電子元器件和X4脈沖處理器的結(jié)合，使Ultim Max能夠在1,500,000 cps的計數(shù)率下對樣品進行面分析，并在400,000 cps計數(shù)率下進行定量。 

靈敏度 

晶體尺寸有著很大影響。使用Ultim Max的大面積晶體（100 mm2和170 mm2），可大幅提高分析條件下的計數(shù)率。