UT450可穿透涂層測(cè)厚儀

1 概述

本儀器是超聲波測(cè)厚儀，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬、非金屬材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。與傳統(tǒng)的測(cè)量方法相比，超聲波測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它只要能接觸被測(cè)工件的一面即可完成厚度測(cè)量。

UT450可穿透涂層測(cè)厚儀具有多模式超聲測(cè)厚功能，允許使用者在發(fā)射-回波模式（檢測(cè)缺陷和凹坑）和回波-回波模式（不計(jì)入涂覆層厚度）之間進(jìn)行自由切換。UT450可穿透涂層測(cè)厚儀可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等領(lǐng)域。

1.1UT450可穿透涂層測(cè)厚儀 技術(shù)參數(shù)

多模式測(cè)厚功能：發(fā)射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式。

測(cè)量范圍：發(fā)射-回波模式下，(0.65～600)mm（鋼中，探頭分段適用）；

回波-回波模式下， (3～30)mm（鋼中，P5EE探頭）

聲速范圍：(1000~9999) m/s：

分 辨 率： 0.1mm/0.01mm可選

示值精度：±(0.5%H+0.01)mm，H為被測(cè)物實(shí)際厚度

測(cè)量周期：單點(diǎn)測(cè)量時(shí)每秒鐘7次、掃描模式每秒鐘16次；

存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組*多100個(gè)測(cè)量值）厚度測(cè)量數(shù)據(jù)

工作模式：具有單點(diǎn)測(cè)厚和掃描測(cè)厚兩種測(cè)厚工作模式

顯 示 屏：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

單 位 制：公制或者英制（可選）

工作電壓：3V（2節(jié)AA尺寸堿性電池）

持續(xù)工作時(shí)間：大于50小時(shí)（不開背光時(shí)）

通訊接口：USB1.1

外形尺寸：150mm×74mm×32 mm

整機(jī)重量：245g

1.2 主要功能

u  適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；

u  具有兩種測(cè)厚模式：發(fā)射-回波模式和回波-回波模式，可以穿透涂層進(jìn)行厚度測(cè)量而不計(jì)入涂層厚度；

u  具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正；

u  已知厚度可以反測(cè)聲速，以提高測(cè)量精度；

u  具有耦合狀態(tài)提示功能；

u  有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；

u  有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量；

u  具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能；

u  帶有USB接口，可以方便、快捷地與PC機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。

u  可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用；

u  可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能；

u  小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾；

UT450可穿透涂層測(cè)厚儀 儀器配置

UT450可穿透涂層測(cè)厚儀探頭選擇