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TRA-300 LED熱結構分析測量系統(tǒng)

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更新時間:2026-08-18 07:36:01瀏覽次數(shù):52

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產品簡介

采用多項技術封裝LED從芯片—熱沉各層間精細熱結構函數(shù)分析

詳細介紹

典型應用場景
TRA-300 LED熱阻結構分析測量系統(tǒng)用于LED封裝產品的熱阻、結溫及分層熱阻結構的精密分析,可以獲得LED精細的熱阻結構,從而客觀評價LED封裝產品的散熱質量和熱管理水平,為LED的散熱設計提供驗證。
主要特點
綜合測試性能優(yōu)異
TRA-300具備熱、光、色、電的全面測試功能,可精確測得熱阻、結溫、光功率、電壓、電流等參數(shù),并繪制伏安特性曲線、結壓-溫度曲線,結溫-時間曲線、積分結構曲線、微分結構曲線和相對光譜曲線等。
高精度瞬態(tài)測量
TRA-300高達1μs的測量速度,可捕捉極其細微的溫度變化信息,還原真實的結溫變化,從而保證熱阻結構函數(shù)的分析精度。
主要參考標準
EIA/JESD 51 Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages MIL-STD-750D Thermal Impedance (Response) Testing of Diodes SJ 20788-2000 半導體二極管熱阻測試方法 QB/T 4057-2010 普通照明用發(fā)光二極管性能要求
主要技術指標
型  號TRA-300
程控恒流源輸出范圍0.1mA~4000.0mA,允許輸出電壓300V,允許輸出功率100VA
正向電流lF測量范圍0.10 mA~50mA/500mA /4000mA自動量程轉換
正向電流lF測量準確度0.1%F.S.+0.1%R.D.+1DG
正向電壓VF測量范圍0.0000 V~5/30/60/150/300V手動設置量程轉換
正向電壓VF測量準確度0.05%F.S.+0.05%R.D.+1DG
熱特性測試電流IM0.10mA~19.90mA
熱特性加熱電流IH20mA~4000mA
采樣速率1MHz
光譜波長范圍380nm~780nm
光功率范圍0.01mW-30.0W
結溫測量范圍-50℃~+200℃(與K系數(shù)大小有關)
熱阻可測量范圍0℃/W~250℃/W
溫控裝置5℃~100℃ 控溫,穩(wěn)定度0.3℃
被測LED規(guī)格外徑50mm,并提供基板式LED夾具
或

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